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USB
텍트로닉스의 USB Tx 및 Rx 소프트웨어 솔루션은 USB-IF 테스트 표준과 호환되는 USB 3.1 유형 C, USB 3.1 및 USB 2.0 기반 시스템을 설계하는 엔지니어의 전기 검증, 컴플라이언스, 특성화 및 디버깅 요구 사항을 충족합니다. 컴플라이언스를 위한 USB-PD 전기 파라메트릭 및 프로토콜 측정 솔루션도 사용 가능합니다.
새로운 소식! 자동 USB 3.1 C형 테스트 솔루션
- 전체 SigTest 지원 및 DPOJET과 결합하여 SuperSpeed USB 3.1 C형 설계 테스트 시 문제의 근본 원인을 신속하게 찾습니다. USB 3.1 소프트웨어 데이터 시트 »
텍트로닉스 오실로스코프 및 BERT로 송신기 및 수신기 테스트
- 새로운 소식! BSX 시리즈 BERTScope 는 Gen [email protected]/s 및 Gen [email protected]/s 통합 DPP 및 프로토콜 인식 아키텍처를 지원합니다.
- MSO/DPO70000 DX 시리즈 오실로스코프 에서 시리얼 패턴 트리거를 사용하여 전기 검증과 함께 프로토콜 분석을 수행합니다.
- 업계 최저 노이즈를 자랑하는 DPO70000SX 시리즈 오실로스코프 를 사용하여 가장 정확한 특성화 및 마진 분석을 수행할 수 있습니다.
USB 3.1 Type-C, USB 3.1 및 USB 2.0 기반 시스템을 위한 솔루션에 대해 자세히 알아보십시오.
Featured Content
USB 3.1 사용자가 알아야 하는 사항 - 레퍼런스 가이드
수백 페이지를 샅샅이 살펴보지 않고도, 가장 중요한 USB 사양을 쉽고 빠르게 확인할 수 있습니다. 이 레퍼런스 가이드에는 전자 테스트의 매개변수, 컴플라이언스 패턴에 대한 레퍼런스 이미지, 1세대 및 2세대한 대한 루프백 시퀀스, 주요 Tx/x 테스트 및 측정 문제를 해결하는 방법 등을 기술하고 있습니다.
USB 3.1 수신기 컴플라이언스 테스트
이 애플리케이션 노트에서는 측정된 장치 마진을 사용한 스트레스 아이 교정 및 지터 허용 오차 테스트를 비롯한 USB 3.1 수신기 테스트의 모든 측면을 다룹니다.
USB Type-C 설계 검증 간소화 : 복잡성을 줄이면서 신뢰성 향상
오류를 디버깅하기 위한 포괄적인 툴은 제품이 컴플라이언스를 통과하고 인증을 획득할 수 있도록 하는 데 핵심적입니다. 이러한 심도 깊은 웨비나는 컴플라이언스 작업을 복잡성을 단순하게, 동시에 신뢰성을 제공하는데 도움이 될 것입니다.
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The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets …
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시리얼 데이터 적합성 및 검증의 기본
본 입문서는 시리얼 데이터 트랜스미션의 일반적인 사항을 이해하는데 도움을 주고자 만들어진 자료로 새로운 직렬 기술에 응용할 수 있는 아날로그 및 디지털 측정 요구 사항에 대해 설명하고 있습니다.
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타이밍 지터의 특성화 및 이해
타이밍 지터는 타이밍 정보를 나타내는데 전압 트랜지션을 이용하는 모든 전기/전자 시스템의 불청객입니다. 본 자료는 전기/전자 시스템의 지터 타이밍 문제를 주로 다루고 있습니다.
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USB 3.0 Physical Layer Measurements
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High Speed Interface Standards
This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical …
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Advanced Serdes Debug with a BERT
Learn simple strategies to pinpoint bit errors to the exact bit position and timing with powerful Error Location Analysis and a BERT.
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USB 2.0 Compliance Solution
This fact sheet details the recommended equipment to meet the USB 2.0 compliance testing requirements.
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Application Kit for USB 3.1 Transmitter and Receiver Testing
This kit contains the following application notes:
USB 3.1 Receiver Compliance Testing covers all aspects of USB 3.1 receiver testing, including stressed eye calibration and jitter tolerance …
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임베디드 시스템 설계의 저속 직렬 버스 디버깅
일반적인 임베디드 시스템은 켜지자마자 특수 목적을 지닌 애플리케이션을 실행하며 시작 하고 꺼질 때까지는 작동이 멈추지 않습니다. 사실상, 오늘날 설계되고 생산되는 모든 전자 장치는 임베디드 시스 템입니다. 임베디드 시스템의 예로는 다음과 같은 것이 있습니다.
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Troubleshooting USB 2.0 Problems with Your Oscilloscope
Learn the basics of the USB 2.0 physical layer to help you troubleshoot bus problems or system issues. Learn how to set up and interpret the results when using automated decoding, triggering, and …
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Testing USB 31
With computer peripheral devices demanding more bandwidth; the industry is making its move to faster serial I/O. USB3.1 brings a staggering 10Gb/sec to computing peripherals. View this short webinar …
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Electrical Validation of the Type-C Interface
The introduction of the Type-C interface, and its implementation across multiple high-demand serial standards, has created new challenges for developers. These include new compliance channel …
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Simplify your USB TypeC Design Validation From Complexity to Confidence
Comprehensive tools for debugging failures are key to building confidence that your product will pass compliance and achieve certification. This in-depth webinar will help simplify your validation …
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Tektronix High-Speed Electrical Testing - Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI
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Tektronix USB2.0 Device MOI
USB 2.0 Universal Serial Bus Measurement MOI
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High-Speed Electrical Testing - Hub MOI
High-Speed Electrical Testing - Hub MOI
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USB 3.1 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the SuperSpeed channels of a USB 3.1 cable and mated cable assembly including Type-C to Type-C and Type-C to legacy connectors.
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USB 2.0 Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI
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USB 3.1 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.1 (10 Gb/s) receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers.
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USB 2.0 Test Procedures MOI
USB 2.0 Test Procedures Method of Implementation
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USB 3.0 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.0 receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers.
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USB 3.0 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the Super Speed channels of a USB 3.0 cable and mated cable assembly.
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USB3 DPOJET MOI
This MOI specifies the testing procedures for USB 3.0 Transmitter Tests using Tektronix DPOJET and Tektronix Oscilloscopes.
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