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Keithley 2010 시리즈: 스캔 기능이 포함된 7½ Digits 멀티미터
7½ Digits 2010 시리즈는 낮은 노이즈 멀티미터로 비용 효율성과 높은 분해능을 제공할 뿐 아니라 정밀 센서, 변환기, A/D 및 D/A 컨버터, 레귤레이터, 기준, 커넥터, 스위치 및 릴레이 테스트와 같은 고속 DMM 애플리케이션에 필요한 정확도와 처리량도 함께 제공합니다. 2000/2001/2002 시리즈와 동일한 빠른 속도와 낮은 노이즈 A/D 컨버터 기술을 기반으로 합니다. 격리된 저항 측정 기능 4개가 추가된 2010 시리즈는 접촉면, 커넥터, 스위치 또는 릴레이의 저항을 측정하는 데 적합한 솔루션입니다.
특징 | 장점 |
| 100nV rms 노이즈 층 | 저전압 구성 요소를 빠르고 정확하게 특성화할 수 있습니다. |
7ppm DCV 반복성 | 측정 정확도의 신뢰도를 높일 수 있습니다. |
| 저전력 저항 측정 모드 | 최저 100μA의 낮은 소스 전류로 낮은 저항을 측정하여 장치의 자체 발열을 최소화할 수 있습니다. |
드라이 서킷 테스트 기능이 제공됩니다. | 접촉면 또는 커넥터에서 저항을 측정할 때 형성되었을 수 있는 산화막이나 기타막의 손상을 방지하기 위해 테스트 전압을 제어할 수 있습니다. |
| 오프셋 저항 보정 기능 | 시스템 환경에서 낮은 레벨 저항 측정 시 오류를 발생시킬 수 있는 열 효과를 방지할 수 있습니다. |
| 10Ω 저항 측정 범위 | 낮은 저항을 보다 정밀하게 측정할 수 있습니다. |
| 15개 측정 기능이 RTD 및 열전대 온도 측정을 지원합니다. | 시스템을 구축할 때 추가 장비 비용을 최소화할 수 있습니다. |
| 멀티 측정용 플러그 인 스위치 카드(옵션) | 멀티 스위치 및 측정 솔루션을 간편하게 만들 수 있습니다. |
| 데이터 시트 | 액세서리 | 설명 |
|---|---|---|
| 보기 데이터 시트 | 2000-SCAN | 스캐너 보드 |
| 보기 데이터 시트 | 2001-TCSCAN | 열전대/발생기용 스캔 카드 |
| 보기 데이터 시트 | 4288-1 | 단일 고정 랙 마운트 키트 |
| 보기 데이터 시트 | 4288-2 | 이중 고정 랙 마운트 키트 |
| 보기 데이터 시트 | 5805 | 켈빈 프로브(0.9M/3피트) |
| 보기 데이터 시트 | 5805-12 | 켈빈 프로브(3.6M/12피트) |
| 보기 데이터 시트 | 7009-5 | 절연 RS-232 케이블(1.5M/5피트) |
| 보기 데이터 시트 | KPCI-488LPA | 낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드 |
| 보기 데이터 시트 | KUSB-488B | IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터 |
PC에서 장비 제어
KickStart 소프트웨어로 테스트 및 측정 작업을 더 빠르게 수행함으로써 혁신을 촉진해 보십시오. PC용 KickStart 장비 제어 소프트웨어는 신속한 테스트 설정, 테스트 실행, 데이터 시각화 작업을 지원합니다. KickStart를 사용하면 데이터를 즉시 도표로 작성하고 판독 표의 데이터에 대한 통계 요약 정보를 빠르게 제공하여 인사이트를 보다 신속하게 얻고 필요한 결정을 내릴 수 있습니다.
- 독립적으로 또는 동시에 여러 유형의 벤치 장비에서 테스트 실행
- 장기 로깅을 위한 데이터 자동 내보내기
- 저장된 테스트 구성을 사용하여 빠르게 테스트 복제
- 내장된 플로팅, 비교 및 통계 도구를 사용하여 측정 이상 현상과 트렌드를 신속하게 발견
- 시뮬레이션된 장비를 사용하여 테스트를 구성하고 사용 가능할 때 실제 장비로 교환
Automated Control from Lab to Fab
Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.
- Perform simple 1-off tests or build complex project trees
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- Data management and statistical analysis capabilities
