연락처
텍트로닉스 담당자와 실시간 상담 6:00am-4:30pm PST에 이용 가능
전화
전화 문의 1-800-833-9200
9:00am-6:00PM KST에 이용 가능
다운로드
매뉴얼, 데이터 시트, 소프트웨어 등을 다운로드할 수 있습니다.
Keithley 2010 시리즈: 스캔 기능이 포함된 7½ Digits 멀티미터
7½ Digits 2010 시리즈는 낮은 노이즈 멀티미터로 비용 효율성과 높은 분해능을 제공할 뿐 아니라 정밀 센서, 변환기, A/D 및 D/A 컨버터, 레귤레이터, 기준, 커넥터, 스위치 및 릴레이 테스트와 같은 고속 DMM 애플리케이션에 필요한 정확도와 처리량도 함께 제공합니다. 2000/2001/2002 시리즈와 동일한 빠른 속도와 낮은 노이즈 A/D 컨버터 기술을 기반으로 합니다. 격리된 저항 측정 기능 4개가 추가된 2010 시리즈는 접촉면, 커넥터, 스위치 또는 릴레이의 저항을 측정하는 데 적합한 솔루션입니다.
특징 | 장점 |
100nV rms 노이즈 층 | 저전압 구성 요소를 빠르고 정확하게 특성화할 수 있습니다. |
7ppm DCV 반복성 | 측정 정확도의 신뢰도를 높일 수 있습니다. |
저전력 저항 측정 모드 | 최저 100μA의 낮은 소스 전류로 낮은 저항을 측정하여 장치의 자체 발열을 최소화할 수 있습니다. |
드라이 서킷 테스트 기능이 제공됩니다. | 접촉면 또는 커넥터에서 저항을 측정할 때 형성되었을 수 있는 산화막이나 기타막의 손상을 방지하기 위해 테스트 전압을 제어할 수 있습니다. |
오프셋 저항 보정 기능 | 시스템 환경에서 낮은 레벨 저항 측정 시 오류를 발생시킬 수 있는 열 효과를 방지할 수 있습니다. |
10Ω 저항 측정 범위 | 낮은 저항을 보다 정밀하게 측정할 수 있습니다. |
15개 측정 기능이 RTD 및 열전대 온도 측정을 지원합니다. | 시스템을 구축할 때 추가 장비 비용을 최소화할 수 있습니다. |
멀티 측정용 플러그 인 스위치 카드(옵션) | 멀티 스위치 및 측정 솔루션을 간편하게 만들 수 있습니다. |
데이터 시트 | 액세서리 | 설명 |
---|---|---|
보기 데이터 시트 | 2000-SCAN | 스캐너 보드 |
보기 데이터 시트 | 2001-TCSCAN | 열전대/발생기용 스캔 카드 |
보기 데이터 시트 | 4288-1 | 단일 고정 랙 마운트 키트 |
보기 데이터 시트 | 4288-2 | 이중 고정 랙 마운트 키트 |
보기 데이터 시트 | 5805 | 켈빈 프로브(0.9M/3피트) |
보기 데이터 시트 | 5805-12 | 켈빈 프로브(3.6M/12피트) |
보기 데이터 시트 | 7009-5 | 절연 RS-232 케이블(1.5M/5피트) |
보기 데이터 시트 | KPCI-488LPA | 낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드 |
보기 데이터 시트 | KUSB-488B | IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터 |

Control your instruments from your PC
Drive innovation through faster test & measurement with KickStart Software. KickStart instrument control software for the PC enables quick test setup, text execution and data visualization. By plotting data immediately and offering quick statistical summaries of the data in the reading table, KickStart allows you to gather insights faster and make the decisions you need to make.
- Run tests on multiple types of bench instruments independently or simultaneously
- Auto export data for long term logging
- Replicate tests quickly using saved test configurations
- Use built-in plotting, comparison and statistical tools to quickly discover measurement anomalies and trends
- Configure tests using simulated instruments and swap in real instruments when available