시스템의 어느 위치에서나 신호 무결성 문제를 파악하여 제거하는 작업은 쉽지 않습니다. Tektronix는 고속 신호 편차를 제대로 해결하고 결함의 근본을 빠르게 찾아 추적하며 일정 지연 및 안정성 문제를 해결하는 데 필요한 대역폭 및 시간 절감 기능을 제공합니다.
- TLA7000 로직 애널라이저 는 프로토콜이나 로직 계층 시스템 문제를 신속하게 찾아내는 데 적합합니다. PHY 계층에서 프로토콜 및 트랜잭션 계층에 이르기까지 심층적인 트리거 시스템 및 포괄적인 보기 도구가 제공됩니다.
- 혼합 신호 오실로스코프 를 통해 신호 무결성 측정 시 아날로그 대역폭 100MHz에서 최대 20GHz까지 모델을 포함한 신호 장비에서 최대 20개의 아날로그 및 디지털 채널이 허용됩니다.
- 혼합 도메인 오실로스코프 는 복잡한 신호 무결성 문제를 완벽하게 볼 수 있도록 시간 및 주파수 도메인에 걸쳐 고유한 식별력을 제공합니다. 임의의 시점에서 RF 스펙트럼을 보고 시간 또는 장치 상태에 따라 어떻게 변화하는지 확인하십시오.
주요 콘텐츠
라이브러리
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| Logic Analyzer Fundamentals Learn the basics and benefits of logic analyzers - see how this tool can solve your debug challenges. |
| 임의 파형 발생기에 가치 추가 디지털 샘플링 기술과 디지털 시리얼 프로세싱 기술의 도입으로 이제 텍트로닉스의 임의파형 발생기 한 대만으로도 거의 모든 타입의 필요한 신호를 생성해 낼 수 잇습니다. |
| 신호 무결성 입문서 이 자료는 디지탈 시스템상의 신호 무결성과 관련된 문제점에 대한 통찰력을 제공하며, 그 원인, 특성화, 효과 및 솔루션에 대해 설명해 드립니다. |
| Fundamentals of Signal Integrity Primer This primer is to provide some insight into signal integrity-related problems in digital systems, and to describe their causes, characteristics, effects and solutions. |
| 디지털 설계 디버깅 가이드Learn more about using digital oscilloscopes to troubleshoot and debug high-speed embedded system designs. |
| Quick Signal Integrity Troubleshooting with Integrated Logic Analyzers & Oscilloscopes Fast product development requires fast and efficient troubleshooting of signal integrity problems. Signal integrity is a growing priority as digital system designers pursue ever-higher clock and data rates... |
| Cross-bus Analysis Reveals Interactions and Speeds Troubleshooting Cross-bus analysis has become an indispensable troubleshooting methodology. This application note discusses how the powerful new logic analysis solution from Tektronix can speed your cross-bus troubleshooting requirements |
| Signal Integrity Engineer's Companion: The Wireless Signal --Part VIIChapter 10 of the Signal Integrity Engineer's Companion discusses new techniques in wireless signal measurement and thought-provoking ideas about signal analysis in the modern wireless environment. Part VII covers applying real-time spectrum analysis. From embedded.com. |
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| Demystify MIPI D-PHY and C-PHY Transmitter and Receiver Physical Layer Test | During this webinar, you'll gain an understanding of MIPI test challenges for both MIPI high-speed physical layers and useful tips and technical insights into characterizing and validating design compliance. |
| TDR Analysis for S Parameter Creation | This webinar reviews TDR basics and the ability to create S-parameters using TDR/TDT measurements to validate high speed channels for debug or de-embedding in a Serial Data Link Analysis application. |