제품 지원 및 다운로드

텍트로닉스에서는 현재 나와 있는 제품 및 단종된 여러 제품의 설명서, 데이터 시트 및 소프트웨어를 제공합니다. 원하는 항목을 다운로드할 수 있습니다.

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  • 데이터 시트 부품 번호 릴리스 날짜
    디지털 및 혼합 신호 오실로스코프
    엔지니어들은 프로토타입 활성화에서부터 생산 테스트에 이르기까지 전체 설계 사이클 동안 오실로스코프를 사용하고 있습니다. 우수한 신호 획득 성능 및 분석 기능이 결합된 MSO/DPO70000 시리즈 오실로스코프의 고유한 기능을 통해 측정 작업을 가속화할 수 있습니다. ...
    55K-23446-26
  • Manual Manual Type Part Number Release Date
    MSO/DPO70000DX, MSO/DPO70000C, DPO7000C, MSO5000B, and DPO5000B Series

    이 설명서는 MSO/DPO70000DX 시리즈, MSO/DPO70000C 시리즈, DPO7000 시리 즈, MSO5000B 시리즈 및 DPO5000B 시리즈 장비의 설치 및 작동에 대해 설명하며 기본적인 운영 방법 과 개념도 제시합니다.

    주 사용자 071298605
    MSO/DPO70000DX, MSO/DPO70000C, DPO7000C, MSO5000B, and DPO5000B Series

    이 설명서는 MSO/DPO70000DX 시리즈, MSO/DPO70000C 시리즈, DPO7000 시리즈, MSO5000B 시리즈 및 DPO5000B 시리즈 장비의 설치 및 작동에 대해 설명하며 기본적인 운영 방법 과 개념도 제시합니다.

    Primary User 071298606
    Best Practices

    This document summarizes the Best Practices for using Tektronix MSO70000/C, DPO7000/C, DPO70000/B/C/D and DSA70000/B/C/D Series products.

    User 071298903
    TF-TekProtect Health Checker

    This document contains instructions for declassification of a TF-TekProtect Health Checker.

    Declassification 077107600
    SDLA64

    The SDLA application helps you test your serial data link design against industry electrical standards, such as SAS and USB3. Any of four circuit blocks, Fixture, Emphasis, Channel, and Equalizer, may be included in the simulation processing.

    User 077021104
    TekExpress MHL

    MHL software version 2.0.x and above. TekExpress MHL provides an efficient way to test MHL transmitter and receiver interfaces and devices to MHL standards and test specifications CTS1.1/1.2/2.0. This document is a PDF of the MHL online help content.

    Primary User 077062004
    TekExpress M-PHY Receiver Automated Test Solution

    For TekExpress M-PHY RX SW release 3.0.x and above. Printable online help for the TekExpress M-PHY Receiver Automated Test Solution application.

    Online Help 077064302
    TekExpress

    TekExpress is the Tektronix Compliance Test Automation Framework, developed to support current and future test automation needs of customers.

    Online Help 077092600
    DDR

    DDR Analysis is a standard specific solution tool for Tektronix Performance Digital Oscilloscopes(DPO7000, DSA/DPO/MSO70000/B series). DDR Analysis requires Jitter and Eye Diagram Analysis Tool (Opt.DJA) and the advanced Search and Mark capability (Opt. ASM).

    Online Help 077023108
    TekExpress MHL

    MHL software version 2.0.x and above. TekExpress MHL provides an efficient way to test MHL transmitter and receiver interfaces and devices to MHL standards and test specifications CTS1.1/1.2/2.0. This document is a PDF of the MHL online help content.

    Primary User 077062005
  • 문서 문서 유형 릴리스 날짜
    시리얼 데이터 적합성 및 검증의 기본
    본 입문서는 시리얼 데이터 트랜스미션의 일반적인 사항을 이해하는데 도움을 주고자 만들어진 자료로 새로운 직렬 기술에 응용할 수 있는 아날로그 및 디지털 측정 요구 사항에 대해 설명하고 있습니다.
    입문서 12 Nov 2018
    SDRAM 메모리의 기본 입문서
    본 입문서는 일반적인 에러와 이를 효율적으로 다루기 위한 중요한 타이밍 분석에 관련된 문제점들을 다루고 있습니다. 또한 쉽지 않은 타이밍 에러를 캡쳐하는 최신 툴과 시스템 검증을 처리하는 방법에 대해서도 설명하고 있습니다.
    입문서 09 Nov 2018
    오실로스코프 입문서
    본 입문서는 60페이지 분량으로 오실로스코프의 기본 사항과 조작을 이해하는 데 적합합니다. 신호 무결성의 중요성, 오실로스코프의 작동 원리, 파형 측정 결과를 해석하는 방법과 같은 기초적인 개념에 대해 설명되어 있습니다.
    입문서 09 Nov 2018
    혼합 신호 오실로스코프를 이용한 혼합 신호 설계 디버깅
    전형적인 임베디드 설계는 종종 아날로그, 디지털, 시리얼, 패러럴 버스를 비롯한 수많은 신호 타입이 섞여 있습니다. 본 자료는 오늘날의 복잡한 신호 설계를 텍트로닉스 MSO 시리즈를 통해 어떻게 빠르게 디버그할 수 있는지 설명하고 있습니다.
    애플리케이션 노트 08 Aug 2017
    XYZs of Oscilloscopes Primer
    After reading this primer, you will be able to: Describe how oscilloscopes work, Describe the differences between analog, digital storage, digital phosphor, and digital sampling oscilloscopes, describe electrical waveform types, understand basic oscilloscope controls, take simple measurements
    Primer 27 Aug 2019
    Using FastFrame™ Segmented Memory
    This application note will explain how the FastFrame(TM) Segmented Memory feature of the high performance scopes from Tektronix eliminate any compromise for you in the quality of the data acquired and the efficient use of the memory.
    Application Note 05 Jul 2019
    임베디드 시스템 설계의 저속 직렬 버스 디버깅
    일반적인 임베디드 시스템은 켜지자마자 특수 목적을 지닌 애플리케이션을 실행하며 시작 하고 꺼질 때까지는 작동이 멈추지 않습니다. 사실상, 오늘날 설계되고 생산되는 모든 전자 장치는 임베디드 시스 템입니다. 임베디드 시스템의 예로는 다음과 같은 것이 있습니다.
    Application Note 06 Dec 2018
    Measurement System Signal Integrity: Important Factors to Consider
    Sufficient bandwidth is a key oscilloscope requirement for making accurate measurements. However, there are a number of other factors and specifications that can help you properly perform signal integrity characterization.
    Technical Brief 10 Nov 2018
    OS Restore Process for MSO/DPO70000/DPO7000 Series oscilloscopes
    This document identifies the OS Restore Process for MSO/DPO70000/DPO7000 Series oscilloscopes.
    Primer 10 Nov 2018
    Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement
    Learn how to maximize the margin in your signal integrity measurements.
    Application Note 10 Nov 2018
  • This short video shows how to debug a compliance measurement that has failed by using Tektronix’ Jitter and Eye Diagram Software, DPOJET. Using DPOJET, engineers can go from a compliance environment…
    Duration: 0h 4m 35s
    This webinar will provide the information on test processes for PCIe devices to allow you to reach compliance faster.
    Duration: 0h 53m 34s
    The NEW P7700 Series TriMode Probe provides the highest probe fidelity available for real-time oscilloscopes. Watch our 60-second video to see how this new probe can help minimize noise and easily…
    Duration: 0h 0m 54s
    This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series…
    Duration: 0h 27m 38s
    The MSO/DPO70000 Series oscilloscope delivers exceptional signal acquisition performance and analysis capability. Discover your real signals and capture more signal details with the industry's…
    Duration: 0h 5m 49s
    Learn how to dramatically cut down test time on required compliance interop tests for USB3 using an automated test suite from Tektronix. 
    Duration: 0h 4m 4s
    This webinar will explain how to prepare for next generation DDR-based memory testing. Learn about the changes these new standards bring to electrical verification and how to prepare for proper…
    Duration: 0h 15m 37s
    Learn how to open closed eyes using equalization techniques and how to de-embed reflections and loss caused by the measurement setup using SDLA Visualizer for Tektronix Real-Time Oscilloscopes.
    Duration: 0h 30m 55s
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