Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

4200A-SCS를 사용하여 반도체 장치, 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있습니다. 최고 성능의 파라미터 분석기인 4200A-SCS는 전류 - 전압(I-V), 커패시턴스 - 전압(C-V) 및 초고속 펄스형 I-V 측정에 대한 동기화된 정보를 제공합니다.

최신 소프트웨어를 PC에서 무료로 사용하세요 .

Product-series_4200-promo-options

DC 전류-전압
(I-V) 범위

10aA - 1A
0.2µV – 210V

커패시턴스-전압
(C-V) 범위

1kHz – 10MHz
± 30V DC 바이어스

펄스형 I-V
범위

±40V(80V p-p), ±800mA
200MSa/sec, 5ns 샘플링 레이트

 

Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

파라메트릭 분석 정보를 빠르고 선명하게 제공

CV 스윕을 수행 중인 4200A-SCS 및 4200A-CVIV 전면

확실한 분석을 수행하는 것은 결코 쉬운 일이 아닙니다. 4200A-SCS 파라미터 분석기는 특성화 복잡성 및 테스트 설정을 최대 50%까지 줄여 명확하고 탁월한 측정 및 분석 기능을 제공합니다. 또한 업계 최초의 임베디드 측정 기술을 통해 테스트 지침을 제공하고 결과에 대한 최고의 확신을 부여합니다.

주요 특징

  • 영어, 중국어, 일본어, 한국어로 제작된 측정 비디오 포함
  • 사용자가 수정할 수 있는 수백 개의 애플리케이션 테스트로 테스트 시작
  • 자동화된 실시간 파라미터 추출, 데이터 그래프 작성, 산술 함수

측정. 전환. 반복

웨이퍼 프로브 스테이션 상의 Keithley 4200A-CVIV 멀티 스위치

4200A-CVIV 멀티 스위치는 프로버 팁을 다시 케이블링하거나 들어 올리지 않고 I-V 및 C-V 측정을 자동으로 전환합니다. 경쟁업체 제품과 달리 4채널 4200A-CVIV 디스플레이는 예상치 못한 결과가 발생할 경우 신속한 테스트 설정 및 손쉬운 문제 해결을 위해 국부적인 시각적 통찰력을 제공합니다.

주요 특징

  • 다시 케이블링하지 않고 C-V 측정을 모든 장치 단자로 옮김
  • 저전류 공급 능력을 위해 사용자 구성 가능
  • 출력 채널 이름 개인화
  • 실시간으로 테스트 상태 보기

I-V 특성화를 위한 안정적인 저전류 측정

4201-SMU 및 4211-SMU 모듈을 사용하면 고커패시턴스 시스템에서 안정적인 저전류 측정을 달성할 수 있습니다. 선택 가능한 네 가지 모델의 SMU(source measure unit)를 통해 모든 I-V 측정 요구 사항에 맞추어 4200A-SCS를 사용자 정의할 수 있습니다. 키슬리는 현장 설치 가능한 장치와 선택적인 프리앰프 모듈을 제공함으로써 다운타임이 거의 없이 가장 정확한 저전류 측정을 수행하도록 해줍니다.

주요 특징

  • 장비를 공장으로 보내지 않고 SMU를 추가하십시오
  • 펨토암페어 측정하기
  • 최대 9개 SMU 채널
  • 긴 케이블 또는 큰 척에 최적화

분석 프로버 및 극저온 컨트롤러와 통합된 솔루션

웨이퍼 프로브 스테이션 전면의 Keithley 4200A-SCS 파라미터 분석기

4200A-SCS 파라미터 분석기는 MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336 극저온 컨트롤러를 비롯하여 많은 수동/반자동 웨이퍼 프로버 및 극저온 컨트롤러를 지원합니다.

주요 특징

  • "지정 및 클릭" 테스트 시퀀싱
  • "수동" 프로버 모드에서 프로버 기능 테스트
  • 가짜 프로버 모드를 통해 명령을 제거하지 않고 디버깅 수행 가능

비용 절감 및 투자 보호

키슬리 케어 플랜으로 투자를 보호하십시오

Keithley 케어 플랜은 요청 시 서비스 이벤트 비용의 일부만으로 신속한 고품질 서비스를 제공합니다. 클릭 한 번이나 전화 한 통화로 수리 보증을 확보하여 견적서나 구매 주문서가 필요하지 않고 승인이 지연되지도 않습니다.

자세히 보기

 

데이터 시트 모델 설명 가격
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK1
고해상도 IV
210V/100mA, 0.1fA 해상도
2~3개 단자 장치, MOSFET, CMOS 특성 분석용 패키지 4200A-SCS-PK1에는 다음이 포함됩니다.
  • 4200A-SCS 반도체 특성 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (1) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK2
고해상도 IV 및 CV
210V/100mA, 0.1fA 해상도, 1kHz ~ 10MHz
High-κ 유전율, 서브 마이크론 단위의 상세 CMOS 특성 분석용 패키지 4200A-SCS-PK2에는 다음이 포함됩니다.
  • 4200A-SCS 반도체 특성 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (1) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 4210-CVU 캐패시턴스-전압 모듈
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK3
고해상도 및 고전력 IV 및 CV
210V/1A, 0.1fA 해상도, 1kHz ~ 10MHz
전력 장치, High-κ 유전율, 서브 마이크론 미만 단위의 상세 CMOS 특성 분석용 패키지 4200A-SCS-PK3에는 다음이 포함됩니다.
  • 4200A-SCS 반도체 특성 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (2) 4210-SMU
  • (2) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 4210-CVU 캐패시턴스-전압 모듈
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200-BTI-A
초고속 NBTI/PBTI
최첨단 실리콘 CMOS 기술에 대한 복잡한 NBTI 및 PBTI 측정에 최적화된 패키지 4200-BTI-A에는 다음이 포함됩니다.
  • (1) 4225-PMU 초고속 I-V 모듈
  • (2) 4225-RPM 원격 프리앰프/스위치 모듈
  • ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어
  • 초고속 BTI 테스트 프로젝트 모듈
  • 케이블
견적 요청

반도체 신뢰성

4225-PMU 펄스 모듈로 수행된 신뢰성 테스트

4200A-SCS에서 복잡성에 유의하도록 하면서 복잡한 신뢰성 테스트를 수행합니다. HCI(Hot Carrier Injection Degradation) 및 HBTI(Negative Bias Temperature Instability) 과 같은 포함된 프로젝트는 장치 분석을 빠르게 시작할 수 있도록 지원합니다. 대규모 실험실의 경우 4200-BTI 패키지에는 키슬리의 ACS 소프트웨어를 사용한 사이트 매핑 및 자동 프로버 제어 기능이 포함되어 있습니다.

주요 특징

  • DC I-V, C-V 및 펄스 측정을 하나의 테스트 세트에 결합
  • 여러 프로브 스테이션 및 외부 장비에 대한 지원 포함
  • 사용하기 쉬운 사이클 시스템을 사용하여 코딩 없이 반복 측정 가능

높은 임피던스 응용 사례에 대한 C-V 측정

MOSCAP 장치에서 수행된 초저주파 C-V 스윕

Keithley의 사용자 정의 초저주파수 C-V 기법을 사용하여 높은 저항 샘플의 커패시턴스를 분석합니다. 이 기법은 SMU(Source Measure Unit) 장비만 사용하여 수행되지만 더 높은 주파수 측정을 위해 4210-CVU와 함께 사용할 수도 있습니다.

주요 특징

  • 1pF - 10nF 민감도의 .01 - 10Hz 주파수 범위
  • 3½ digits 일반 분해능, 최소 일반 10fF

Non-volatile 메모리

4225-PMU 펄스 모듈로 수행된 PUND 메모리 테스트 시퀀스

완벽한 펄스형 I-V 특성화로 테스트에 새로운 기술을 투입합니다. 4200A-SCS에는 플로팅 게이트 플래시부터 ReRAM 및 FeRAM에 이르는 NVRAM 기술에 대한 지원 및 실행 준비가 완료된 테스트가 포함되어 있습니다. 전류 및 전압에 대한 듀얼 소싱 및 측정 기능을 통해 과도 및 I-V 도메인 특성화가 가능합니다.

긴 케이블 또는 커패시턴스 픽스쳐를 사용하는 경우의 테스트

4201-SMU 모듈로 수행한 vg-Id 테스트

매우 긴 케이블이나 고캐패시턴스 픽스쳐가 필요한 테스트에는 4201 또는 4211-SMU를 사용하십시오. 이러 SMU는 LCD 테스트 스테이션, 프로버, 스위치 매트릭스 또는 기타 크고 복잡한 테스터에 연결하는 데 이상적입니다. 현장 설치 가능 버전을 사용하면 장치를 서비스 센터로 반송하지 않고도 용량을 추가할 수 있습니다.

나노급 장치 특성화

탄소 나노튜브 FET 곡선 집단

4200A-SCS의 통합 장비 기능은 탄소 나노 튜브와 같은 나노급 전자 제품을 개발할 때의 측정 요구 사항을 간소화합니다. 미리 구성된 테스트 프로젝트에서 조사를 시작하고 작업 영역을 확장합니다. SMU의 펄스형 소스 모드는 저전압 C-V 및 초고속 펄스형 DC 측정(초 단위)과 결합되어 과열 문제를 줄이는 데 도움을 줍니다.

물질 저항률

동일 선형 4포인트 프로브로 수행된 재료 과학 저항 측정

통합 SMU와 함께 4200A-SCS를 사용하여 4포인트 공직선형(collinear) 프로브 또는 면저항 측정법(van der Pauw)으로 저항률을 쉽게 측정할 수 있습니다. 포함된 테스트는 반복적인 면저항 측정 계산을 자동으로 수행하여 귀중한 연구 시간을 절감합니다. 최대 전류 분해능 10aA 및 10­­­­16옴 이상의 입력 임피던스를 사용하여 보다 정확하고 정밀한 결과를 얻을 수 있습니다.

MOSFET 특성화

4200A-SCS 파라미터 분석기를 통한 MOSFET 임계값 전압 측정

4200A-SCS는 컴포넌트 또는 웨이퍼상 테스트를 통해 MOS 장치의 전체 특성화에 필요한 모든 장비를 보유할 수 있습니다. 포함된 테스트 및 프로젝트는 MOSCap의 산화물 두께, 임계 전압, 도핑 농도, 이동 이온 농도 등을 해석합니다. 이러한 모든 테스트는 단일 장비 박스의 버튼을 터치하여 실행할 수 있습니다.

데이터 시트 모듈 설명 구성 및 견적 요청
4200A-CVIV I-V/C-V 멀티 스위치 모듈 구성 및 견적
4201-SMU 고캐패시턴스 설정을 위한 중간 전력 SMU 구성 및 견적
4211-SMU 고캐패시턴스 설정을 위한 고전력 SMU 구성 및 견적
4201-SMU-R 고캐패시턴스 설정을 위한 현장 설치 가능 중간 전력 SMU 구성 및 견적
4211-SMU-R 고캐패시턴스 설정을 위한 필드 설치 가능 고전력 SMU 구성 및 견적
4200-SMU 중간 전력 SMU(소스 측정 장치) 구성 및 견적
4201-SMU 고전력 소스 측정 장치 구성 및 견적
4200-SMU-R 필드 교체식 MPSMU 구성 및 견적
4210-SMU-R 필드 교체식 HPSMU 구성 및 견적
4200-PA 원격 프리앰프 모듈 구성 및 견적
4210-CVU 커패시턴스-전압 장치 구성 및 견적
4220-PGU 고전압 펄스 발생기 장치 구성 및 견적
4225-PMU 초고속 펄스 측정 장치 구성 및 견적
4225-RPM 원격 프리앰프/스위치 모듈 구성 및 견적
4200-BTI-A 초고속 BTI PKG 구성 및 견적
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

부품 번호: 4200A-901-01F
Manual 19 Feb 2020
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software

부품 번호: 077132609
Manual 19 Feb 2020
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual

부품 번호: 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Manual 19 Feb 2020
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software

부품 번호: 077132608
Manual 19 Feb 2020
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
User's manual for the 4200A CV-IV multi-switch.

부품 번호: 4200A-CVIV-900-01D
Manual 19 Feb 2020
Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM

부품 번호: PA-624C
Manual 19 Feb 2020
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

부품 번호: 071348701
Manual 19 Feb 2020
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
Warnings from the QSGs, User's Manual and Reference Manual translated into French for the 4200A-SCS Other

부품 번호: 077126000
Manual 19 Feb 2020
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as optio
포스터 19 Feb 2020
Measuring Inductance Using the 4200-CVU Capacitance-Voltage Unit
애플리케이션 노트 19 Feb 2020
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.

참고자료 번호: 1KW-61388-0
애플리케이션 노트 19 Feb 2020
ACS Software Reference Manual

부품 번호: ACS-901-01
Manual 05 Feb 2020
ACS Basic Software Reference Manual

부품 번호: ACSBASIC-901-01
Manual 05 Feb 2020
ACS Basic Software Quick Start Guide

부품 번호: ACSBASIC-903-01
Manual 05 Feb 2020
ACS Software Quick Start Guide

부품 번호: ACS-903-01
Manual 05 Feb 2020
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

참고자료 번호: 1KW-60780-5
Datasheet 04 Feb 2020
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a per

부품 번호: 4200A-CLARIUS-V1.5
Software 04 Feb 2020
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

부품 번호: 4200A-CLARIUS-V1.7
Software 04 Feb 2020
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3
The 4200A-SCS Clarius+ Software Suite provides a clear, uncompromised parameter analysis for your semiconductor devices, materials, processes and more. Download the latest version of Clarius+ to stay up-to-date with the ever-growning library of ready

부품 번호: 4200A-CLARIUS-V1.3
Software 04 Feb 2020
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2
4200-SCS KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 includes all changes from KTEI V9.1 Service Pack 1, plus additional enhancements and fixes for known bugs. This service pack is to be installed on top of either KTEI V9.1 or V9.1 Service Pack 1 software on

부품 번호: 4200-KTEI-V9.1SP2
Software 04 Feb 2020
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

부품 번호: 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Software 04 Feb 2020
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measuremen

참고자료 번호: 1KW-60780-1
브로슈어 04 Feb 2020
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

참고자료 번호: 55W_30503_2
브로슈어 04 Feb 2020
Safely Using the Interlock on the Keithley Model 4200-SCS
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Performing Charge Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).

참고자료 번호: 1KW-60634-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60644-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the Mode 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

참고자료 번호: 1KW-1559-0
핸드북 04 Feb 2020
A Local Area Network Laboratory Based on the Keithley 4200-SCS for Engineering Education in Microelectronics
백서 04 Feb 2020
KTEI V8.2 for the Model 4200-SCS: Characterize NVM, Measure VLF C-V, Make More Pulsed or Ultra-fast I-V Measurements in Parallel
브로슈어 04 Feb 2020
Probing Transistors at the Contact Level in Integrated Circuits
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Writing Prober Drivers for the Model 4200-SCS

참고자료 번호: Job #2361. Updated 01/07
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Improving the Measurement Speed and Overall Test Time of the Model 4200-SCS
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Ultra-fast (<10 ns) pulsing is required to develop the newest non-volatile memory types like Flash, PCRAM, STT-RAM and others. In addition to the recommended minimum and allowable minimum pulse widths possible using the Keithley 4225-PMU Ultra-Fas

참고자료 번호: 1KW-61454-1
기술 요약 04 Feb 2020
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency.

참고자료 번호: 75W-61556-0
기술 요약 04 Feb 2020
Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices
Application Note # 2197 Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices With decreased MOSFET gate length, hot carrier induced degradation has become one of the most important reliability concerns.
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Evaluating Oxide Reliability
Application Note Number 2240 Evaluating Oxide Reliability Using V-Ramp and J-Ramp Techniques Oxide integrity is an important reliability concern, especially for today's ULSI MOSFET devices, where oxide thickness has been scaled to a few atomic layers
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Keithley Pulse Solutions
브로슈어 04 Feb 2020
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve

참고자료 번호: 1KW-60158-1
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Evolving design scales and new materials are making wafer level reliability testing more critical than ever. This is also driving the demand for reliability testing and modeling much further upstream, especially into the R&D process. Instrumentma

참고자료 번호: 1KW-61526-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.

참고자료 번호: 1KW-60641-1
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Creating External Instruments Drivers for the Model 4200-SCS

참고자료 번호: technical note #2661
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60635-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60636-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Optimizing Low Current Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Integral PC Design of Keithley Model 4200-SCS is at the Leading Edge of a New Instrumentation Trend
기술 자료 04 Feb 2020
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Full color brochure covering the semiconductor characterization system, Model 4200-scs.
브로슈어 04 Feb 2020
Model 4200-SCS & KTEI 5.0 Software Extend Semi Characterization to Stress-Measure, Reliability Test
Cleveland, Ohio - December 11, 2003 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) today announced availability of its Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System with its integral Keithley Test Environment-Interactive (KTEI) v5.0 software.
보도 자료 04 Feb 2020
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
브로슈어 04 Feb 2020
Resistivity Measurements of Semiconductor Materials Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer and a Four-Point Collinear Probe

참고자료 번호: 1KW-60640-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for ach

참고자료 번호: 1KZ-61313-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator

참고자료 번호: Job #2481
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement

참고자료 번호: 1KW-60643-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Ultra-Fast I-V Applications for the Model 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process

참고자료 번호: 1KW-60873-1
팩트 시트 04 Feb 2020
Ultra Fast Single Pulse Technique for Channel Effective Mobility Measurement
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60639-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the Wafer Map Parameters Option with Cascade Nucleus Prober Software and the Model 4200-SCS

참고자료 번호: Job number 2657.
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the Model 4225-RPM Remote Amplifier/ Switch to Automate Switching Between DC I-V, C-V, and Pulsed I-V Measurements

참고자료 번호: 1KW-60628-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60637-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.

참고자료 번호: 1KW-61356-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Gate Dielectric Capacitance-Voltage Characterization Using the Model 4200
Application Note Number 2239 Gate Dielectric Capacitance - Voltage Characterization Using the Model 4200 Semiconductor Characterization System Maintaining the quality and reliability of gate oxides is one of the most critical and challenging tasks in
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60633-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60642-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
기술 자료 04 Feb 2020
C-V Testing for Semiconductor Components and Devices - Applications Guide
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
C-V Characterization of MOS Capacitors Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

참고자료 번호: 1KW-60645-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
팩트 시트 04 Feb 2020
DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices
DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
DC Electrical Characterization of RF Power Transistors
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Pulsed I-V Testing for Components and Semiconductor Devices - Applications Guide
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Pulse Testing for Nanoscale Devices
기술 자료 04 Feb 2020
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies

참고자료 번호: 1KW-60638-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Breathe New Life into Your 4200-SCS Parameter Analyzer
팩트 시트 04 Feb 2020
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS

참고자료 번호: Rev 7.15.11 ah
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Monitoring Channel Hot Carrier (CHC) Degradation of MOSFET Devices using Keithley's Model 4200-SCS

참고자료 번호: Print job #2535
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Moving from Windows XP to Windows 7? Upgrade Your Model 4200-SCS
사용 방법 가이드 04 Feb 2020
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

참고자료 번호: 1KW-60826-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
METHODS AND TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

참고자료 번호: 1KW-60825-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the

참고자료 번호: 1KW-61609-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4210-CVU Capacitance Voltage Unit
Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications.  This application note describes how to make optimal capacitance measurements using proper measurement techniq

참고자료 번호: 1KW-61528-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Low Current Pulse I-V Measurements
This application note defines ultra-fast I-V, explains the fundamental limits of current measurements as a function of time and measure window, and describes the techniques for making ultra-fast I-V low current measurements.

참고자료 번호: 1KW-61527-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Three-Terminal Capacitance-Voltage Measurements Up to 400 V
This application note explains how the CISS, COSS and CRSS measurements are made using the bias tee capabilities in the 4200A-CVIV Multi-Switch. This application note also shows how the instrument DC output voltage was doubled from 200 V to 400 V for

참고자료 번호: 1KW-61529-0
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Charge-Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System and Series 3400 Pulse/Pattern Generator

참고자료 번호: Job #2851
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS Semiconductor Characteriztion System Parametric characterization of semiconductor devices typically requires making extremely low current measurements. For MOSFET devices, the ga

참고자료 번호: Application Note Number 2241
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Making I-V and C-V Measurements on Solar/Photovoltaic Cells Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트 04 Feb 2020
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
팩트 시트 04 Feb 2020
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
팩트 시트 04 Feb 2020
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ ID249356 15 Jan 2020
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will
FAQ ID780926 15 Jan 2020
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the
FAQ ID780921 15 Jan 2020
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only
FAQ ID255351 15 Jan 2020
What is the time required to switch between Pulse IV (4225PMU) and CV (4210ACVU) measurements using the 4225-RPM for the 4200A-SCS?
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate s
FAQ ID469646 15 Jan 2020
Is there a resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS?
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek.com/document/a
FAQ ID248681 15 Jan 2020
I have lost the device library on the 4200A-SCS, how to get it back?
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
FAQ ID247546 15 Jan 2020
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
애플리케이션 노트 26 Dec 2019
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies
애플리케이션 노트 26 Dec 2019
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

참고자료 번호: 1KW-60826-0
애플리케이션 노트 26 Dec 2019
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide Quick Start User Manual

부품 번호: 4200A-903-01A
Manual 26 Nov 2019
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
Release notes and installation instructions for KTE Interactive software for the 4200. Release Notes

부품 번호: PA-895R
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-Compiler Installation Instructions
4200-Compiler installation instructions for the 4200A-SCS and 4200-SCS Instructions

부품 번호: PA-1030E
Manual 26 Nov 2019
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup. Instruction Manual

부품 번호: PA-1001D
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide Quick Start User Manual

부품 번호: 4200A-PK2-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-SCS User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information. User Manual

부품 번호: 4200A-900-01C
Manual 26 Nov 2019
Keithley PreAmp Adapter Installation

부품 번호: PA-633A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions Instructions

부품 번호: 077134300
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide Quick Start User Manual

부품 번호: 4200A-PK3-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions Instructions

부품 번호: 077126200
Manual 26 Nov 2019
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory, integr...
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain...
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run t...