2600B 시리즈 SMU

동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.

2600B로 FET 테스트 간소화

주요 특징

• 동일한 설치 면적에서 최대 2개의 채널
• 전압 및 전류의 가장 넓은 동적 범위
• DC 생산 테스트 기능을 확장하는 고정밀 100μs 펄스

TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 확장할 수 있습니다. 모든 채널은 500ns 미만의 속도로 동시에 독립적으로 제어됩니다.

Keithley 시리즈 2600B로 다중 핀 장치의 생산 처리량 증가

주요 특징

• 500ns 미만의 채널 간 동기화 지원
• 최대 32개의 SMU 또는 64개의 독립 SMU 채널
• 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능

SMU(Source Measure Unit) 자습서 학습 센터는 Keithley SMU 및 기타 제품에 대한 풍부한 정보를 일체형의 편리한 위치에 제공합니다. 텍트로닉스는 당사가 제공하는 애플리케이션 및 산업과 관련된 다양한 콘텐츠에 대한 링크를 제공합니다.

모든 SMU 자습서 보기

레이저 다이오드(LD) 생산 테스트를 위한 업계 최고의 DC 테스트 시스템은 레이저 다이오드 모듈, 포토 다이오드 전류의 전류 소싱 및 전압-전류 모니터링에 고속 및 고정밀 SMU를 사용합니다. SMU는 높은 시스템 동기화 및 처리량을 제공하는 가장 경제적인 LIV 장비입니다.

레이저 다이오드 모듈 및 VCSEL의 고속 대량 DC 프로덕션 테스트(High Throughput DC Production Testing)

주요 특징

• 최대 10A 및 100µs의 프로그래밍 가능한 전류 소스
• 100nV 및 0.1fA에서 전압 및 전류 측정 분해능
• 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬

Keithley의 2636B/35B 모델은 생산 환경의 처리량 요구 사항을 충족하도록 설계된 업계 최고의 저전류 감도를 지원합니다. 시간이 지남에 따라 고장을 유발할 수 있는 단락된 게이트 산화물과 기타 결함을 검사하기 위해 CMOS 집적 회로 및 전자 제품 제조업체의 대기 전류(누설 전류라고도 함) 또는 IDDQ를 측정하는 데 적합합니다.

IDDQ 테스트 및 대기 전류 테스트

주요 특징

• 0.1fA 분해능
• 경쟁업체 제품보다 7배 빠른 정착 시간

KickStart를 사용하여 쉽게 측정할 수 있습니다. 프로그래밍하지 않고도 기기와 소재를 쉽고 빠르게 특성화할 수 있으며,  그래픽 및 표 형식으로 실시간 결과를 시각화할 수 있습니다. 신속하게 보고하거나 추가 분석하기 위해 데이터 표나 그래프를 Excel로 내보낼 수 있습니다.

무료 버전의 Keithley KickStart 다운로드

Keithley KickStart 데이터 시트

주요 특징

• Windows OS에서 GPIB, USB, 이더넷 연결
• 최대 4개의 SMU(Source Measure Unit) 장비를 지원하는 I-V 특성화 애플리케이션
• 동시 측정으로 전압 및 전류 소스의 선형, 로그, 목록 및 듀얼 스윕 생성

TSB(테스트 스크립트 작성기)는 Keithley의 TSP®(테스트 스크립트 프로세서) 활성 장비를 위한 간편한 테스트 스크립트 작성 기능을 제공하는 소프트웨어 도구입니다.

TSB 소프트웨어 다운로드

주요 특징

• 장비로 명령을 전송하고 장비에서 응답 받기
• 사용자 스크립트 생성/관리/실행
• 스크립트 디버깅
• 초기 상태 스크립트를 가져와 확인하거나 편집하여 사용자 스크립트로 변환