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2600B 시리즈 SMU

Keithley의 시리즈 2600B 시스템 SMU 장비는 고도로 자동화된 생산 테스트 애플리케이션을 위한 업계 표준 전류-전압 소스 및 측정 솔루션입니다. 듀얼 및 단일 채널 모델 모두 정밀 전원 공급기, 실제 전류 소스, DMM 및 펄스 발생 기능이 있는 전자 부하기를 긴밀하게 통합합니다. 또한 TSP® 기술은 자동화된 시스템 애플리케이션을 위한 완벽한 테스트 프로그램을 실행하며, TSP-Link® 기술은 대용량 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 데이지 체인 방식으로 연결할 수 있습니다.

채널

2 또는 1

최소 V/I 펄스 소스

< 100µs
0.1% settled

V/I 범위

0.1fA - 10A,
100nV - 200V

최대 속도

버퍼에 대해 초당 20,000개의 판독값

 

설치 면적을 그대로 유지하면서 완벽한 생산 테스트 수행

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동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 각 40W 채널은 6½ Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100μs 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.

주요 특징

  • 동일한 설치 면적에서 최대 2개의 채널
  • 전압 및 전류의 가장 넓은 동적 범위
  • DC 생산 테스트 기능을 확장하는 고정밀 100μs 펄스

탁월한 생산 처리량을 위한 임베디드 스크립팅

缩略图

TSP®(Test Script Processor) 기술은 SMU 장비 내에 완벽한 테스트 프로그램을 포함하고 실행하여 업계 최고의 성능을 제공합니다.

주요 특징

  • 시간이 오래 걸리는 PC와의 버스 통신 제거
  • 고급 데이터 처리 및 흐름 제어
  • 다기능 프로버/처리기 제어

메인프레임 없이 뛰어난 시스템 성능

缩略图

TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 확장할 수 있습니다. 모든 채널은 500ns 미만의 속도로 동시에 독립적으로 제어됩니다.

주요 특징

  • 500ns 미만의 채널 간 동기화 지원
  • 최대 32개의 SMU 또는 64개의 독립 SMU 채널
  • 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능

생산을 위한 최상의 저전류 성능

缩略图

2635B 및 2636B SMU는 최저 100pA 범위에서 0.1fA, 10-16 분해능을 제공하여 초저 레벨 샘플 특성화에 대한 걱정을 줄여주고 성공적인 생산을 보장합니다.

주요 특징

  • 가장 낮은 전류 범위에서 7배 빠른 정착 시간
  • 시장에서 최상의 저전류 분해능
  • 직접적인 3축 연결로 설정이 간단해짐

자세히 알아보면 보다 자세한 정보를 파악할 수 있습니다.

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SMU(Source Measure Unit) 자습서 학습 센터는 Keithley SMU 및 기타 제품에 대한 풍부한 정보를 일체형의 편리한 위치에 제공합니다. 텍트로닉스는 당사가 제공하는 애플리케이션 및 산업과 관련된 다양한 콘텐츠에 대한 링크를 제공합니다.

 

모델 채널 최대 전류 소스/측정 범위 최대 전압 소스/측정 범위 측정 분해능(전류/전압) 전원 정가
2601B 1 10A 40V 100fA/100nV 200W US $7,590
구성 및 견적
2611B 1 10A 200V 100fA/100nV 200W US $7,590
구성 및 견적
2604B 2 10A 40V 100fA/100nV 200W US $10,300
구성 및 견적
2614B 2 10A 200V 100fA/100nV 200W US $10,300
구성 및 견적
2612B 2 10A 200V 100fA/100nV 200W US $11,200
구성 및 견적
2602B 2 10A 40V 100fA/100nV 200W US $11,200
구성 및 견적
2635B 1 10A 200V 0.1fA/100nV 200W US $12,300
구성 및 견적
2634B 2 10A 200V 1fA/100nV 200W US $16,300
구성 및 견적
2636B 2 10A 200V 0.1fA/100nV 200W US $18,500
구성 및 견적
모델 채널 최대 전류 소스/측정 범위 최대 전압 소스/측정 범위 측정 분해능(전류/전압) 전원 정가
2601B 1 10A 40V 100fA/100nV 200W US $7,590
구성 및 견적
2611B 1 10A 200V 100fA/100nV 200W US $7,590
구성 및 견적
2604B 2 10A 40V 100fA/100nV 200W US $10,300
구성 및 견적
2614B 2 10A 200V 100fA/100nV 200W US $10,300
구성 및 견적
2612B 2 10A 200V 100fA/100nV 200W US $11,200
구성 및 견적
2602B 2 10A 40V 100fA/100nV 200W US $11,200
구성 및 견적
2635B 1 10A 200V 0.1fA/100nV 200W US $12,300
구성 및 견적
2634B 2 10A 200V 1fA/100nV 200W US $16,300
구성 및 견적
2636B 2 10A 200V 0.1fA/100nV 200W US $18,500
구성 및 견적
  Keithley
2600B 시리즈
Keithley
2400 시리즈
  2601B 2602B 2604B 2606B 2611B 2612B 2614B 2635B 2636B 2634B* 2450 2460 2461 2400 2401* 2410 2420
터치스크린 아니요 아니요
채널 1 2 4 1 2 1 2 1
최대 전원 출력 40W/channel 20 W/channel 30W/channel 30W/channel 20W 100W 1,000W Pulse
100W DC
22W 66W
I 최소 ±100fA ±100fA ±0.1fA
1fA*
±10fA ±1pA ±1pA ±1pA ±1pA ±1pA ±10pA
최대 10A Pulse
±3A DC/channel
3A Pulse
±3A DC/channel
10A Pulse
±1.5A DC/channel 
10A Pulse
±1.5A DC/channel 
±1.05A ±7.35A ±10A ±1.05A ±1.05A ±1.05A ±3.15A
V 최소 ±100nV ±100nV ±100nV ±10nV ±100nV ±100nV ±100nV ±100nV ±100nV ±100nV
최대 ±40V ±20V ±200V ±200V ±210V ±105V ±100V ±210V   ±21V* ±1100V ±63V
기본 정확도 I 0.02% 0.02% 0.04%
V 0.02% 0.01% 0.02%
읽기 속도 20,000 rdgs/s 3,130 rdgs/s 3,000 rdgs/s 3,000 rdgs/s
1MS/s digitizer
초당 2,081개의 판독값
접촉 확인부 아니요 아니요 아니요 아니요 아니요
TSP-Link 아니요 아니요 아니요 아니요
디지털 I/O 아니요 아니요 아니요 아니요
컴퓨터 인터페이스 USB 2.0
LAN/LXI-C
IEEE-488
RS-232
USB 2.0
LAN/LXI-C
전용
USB 2.0
LAN/LXI-C
IEEE-488
RS-232
USB 2.0
 LAN/LXI 1.4
IEEE-488
IEEE-488
RS-232
컴플라이언스 CE, UL CE, NRTL 승인 CE, UL CE

레이저 다이오드(VCSEL) 생산 테스트

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레이저 다이오드(LD) 생산 테스트를 위한 업계 최고의 DC 테스트 시스템은 레이저 다이오드 모듈, 포토 다이오드 전류의 전류 소싱 및 전압-전류 모니터링에 고속 및 고정밀 SMU를 사용합니다. SMU는 높은 시스템 동기화 및 처리량을 제공하는 가장 경제적인 LIV 장비입니다.

주요 특징

  • 최대 10A 및 100µs의 프로그래밍 가능한 전류 소스
  • 100nV 및 0.1fA에서 전압 및 전류 측정 분해능
  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬

LED의 간소화된 I/V 특성

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2600B 시리즈 SMU는 LED DC 특성 및 생산 테스트에 적합한 업계 선도적 장비로,  다양한 테스트 요구 사항에 대해 0.02%의 정확도로 전압/전류 측정과 함께 전류 또는 전압 소스를 구성할 수 있습니다. 또한 TSP®(Test Script Processor) 기술은 처리량 이점을 제공합니다.

주요 특징

  • 최대 10A 및 100µs의 프로그래밍 가능한 전류 소스
  • 100nV 및 0.1fA에서 전압 및 전류 측정 분해능
  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬

IDDQ 테스트 및 대기 전류 테스트

缩略图

Keithley의 2636B/35B 모델은 생산 환경의 처리량 요구 사항을 충족하도록 설계된 업계 최고의 저전류 감도를 지원합니다. 시간이 지남에 따라 고장을 유발할 수 있는 단락된 게이트 산화물과 기타 결함을 검사하기 위해 CMOS 집적 회로 및 전자 제품 제조업체의 대기 전류(누설 전류라고도 함) 또는 IDDQ를 측정하는 데 적합합니다.

주요 특징

  • 0.1fA 분해능
  • 경쟁업체 제품보다 7배 빠른 정착 시간

고도로 동기화된 다중 핀, 다중 채널 생산 시스템(메인프레임 없음)

缩略图

Keithley의 시리즈 2600B 시스템 SourceMeter® SMU 장비는 랙앤스택(rack-and-stack) 장비의 확장성과 유연성을 TSP 및 TSP-Link 기술을 사용하여 메인프레임 기반 시스템의 통합 및 높은 처리량과 결합하여 제조 공간을 줄여주고 테스트 비용을 절감할 수 있습니다.

주요 특징

  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬
  • TSP-Link 기술을 통해 다른 Keithley TSP 장비와 500ns 동기화 시 최대 32개의 장비 연결

 

Keithley KickStart 장비 제어 소프트웨어. 무료로 제공되며 프로그래밍하지 않아도 됨

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KickStart를 사용하여 쉽게 측정할 수 있습니다. 프로그래밍하지 않고도 기기와 소재를 쉽고 빠르게 특성화할 수 있으며,  그래픽 및 표 형식으로 실시간 결과를 시각화할 수 있습니다. 신속하게 보고하거나 추가 분석하기 위해 데이터 표나 그래프를 Excel로 내보낼 수 있습니다.

주요 특징

  • Windows OS에서 GPIB, USB, 이더넷 연결
  • 최대 4개의 SMU(Source Measure Unit) 장비를 지원하는 I-V 특성화 애플리케이션
  • 동시 측정으로 전압 및 전류 소스의 선형, 로그, 목록 및 듀얼 스윕 생성

Keithley IVy - 모바일 장치에서 무선 I-V 특성화

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Keithley IVy를 사용하면 DUT(피시험 장치)에 대해 보다 상세하게 파악하는 동시에 가장 빠르고 쉽게 전류 - 전압 특성화를 수행하고 DUT(피시험 장치) 문제를 해결하고 프로그래밍 없이 측정 결과를 공유할 수 있습니다.

주요 특징

  • Keithley 시리즈 2600B SourceMeter SMU 장비와 호환
  • I-V 모드에서 2단자 장치 시각화
  • 시간 모드에서 장치 동작 확인
  • 전자 우편, Dropbox 또는 Google Drive를 통해 즉시 데이터 공유

장비 성능을 극대화하는 무료 스크립트 개발자 환경 지원

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TSB(테스트 스크립트 작성기)는 Keithley의 TSP®(테스트 스크립트 프로세서) 활성 장비를 위한 간편한 테스트 스크립트 작성 기능을 제공하는 소프트웨어 도구입니다.

주요 특징

  • 장비로 명령을 전송하고 장비에서 응답 받기
  • 사용자 스크립트 생성/관리/실행
  • 스크립트 디버깅
  • 초기 상태 스크립트를 가져와 확인하거나 편집하여 사용자 스크립트로 변환

 

액세서리 2000-BENCHKIT
데이터 시트 설명
여러 모델 벤치 변환 키트
액세서리 237-ALG-15
데이터 시트 설명
보기 데이터 시트 낮은 노이즈 3축 케이블 15M(50FT)
액세서리 237-ALG-2
데이터 시트 설명
낮은 노이즈 3축 케이블
액세서리 237-TRX-BAR
데이터 시트 설명
3 러그 F/3 러그 F 3축
액세서리 2600-ALG-2
데이터 시트 설명
보기 데이터 시트 낮은 노이즈 3축 케이블(엘리게이터 클립 포함)
액세서리 2600-BAN
데이터 시트 설명
바나나 잭(Banana Jack) 인터페이스 케이블
액세서리 2600B-PM-2
데이터 시트 설명
단자 블록 커넥터가 포함된 1.5A/200V 보호 모듈
액세서리 2600-DEMO-TRX
데이터 시트 설명
보기 데이터 시트 3축 - 피닉스 데모 전용
액세서리 2600-FIX-TRX
데이터 시트 설명
2600 SMU를 고/저 3축에 연결하는 케이블
액세서리 2600-KIT
데이터 시트 설명
2600 시리즈 나사 단자 커넥터 키트
액세서리 2600-TLINK
데이터 시트 설명
2600 시리즈 트리거 I/O - TLINK 인터페이스 케이블
액세서리 2600-TRIAX
데이터 시트 설명
2600 시리즈용 3축 어댑터
액세서리 4299-1
데이터 시트 설명
대형 랙 마운트 키트 2600 시리즈 단일 장치
액세서리 4299-10
데이터 시트 설명
1개의 2U 그래픽 디스플레이 장비 및 1개의 시리즈 26XX 장비용 이중 고정 랙 마운트 키트
액세서리 4299-2
데이터 시트 설명
장치 2대용 대형 랙 마운트 키트
액세서리 4299-5
데이터 시트 설명
보기 데이터 시트 1U 통풍구 패널
액세서리 4804
데이터 시트 설명
BNC(MALE) - 3축(FEMALE) 어댑터
액세서리 7007-1
데이터 시트 설명
절연 GPIB 케이블(1M/3.2피트)
액세서리 7007-2
데이터 시트 설명
절연 GPIB 케이블(2M/6.5피트)
액세서리 7007-3
데이터 시트 설명
절연 GPIB 케이블(3M/10피트)
액세서리 7007-4
데이터 시트 설명
절연 GPIB 케이블, 4M(13FT)
액세서리 7010
데이터 시트 설명
IEEE 어댑터
액세서리 7078-TRX-1
데이터 시트 설명
3슬롯 3축 케이블, 1피트
액세서리 7078-TRX-10
데이터 시트 설명
3슬롯 3축 케이블, 10피트
액세서리 7078-TRX-12
데이터 시트 설명
3러그 3축 케이블, 12피트
액세서리 7078-TRX-20
데이터 시트 설명
3슬롯 3축 케이블, 20피트
액세서리 7078-TRX-3
데이터 시트 설명
3슬롯 3축 케이블, 3피트
액세서리 7078-TRX-5
데이터 시트 설명
3슬롯 3축 케이블
액세서리 7078-TRX-6IN
데이터 시트 설명
보기 데이터 시트 3슬롯 낮은 노이즈 3축 케이블,6인치(.15M)
액세서리 7078-TRX-BNC
데이터 시트 설명
3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터
액세서리 7078-TRX-GND
데이터 시트 설명
3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터(보호 장치 제거된 상태)
액세서리 7078-TRX-TBC
데이터 시트 설명
3러그 3축 BULKHD 커넥터
액세서리 8101-4TRX
데이터 시트 설명
4핀 트랜지스터 고정기
액세서리 8606
데이터 시트 설명
모듈형 프로브 키트
액세서리 KPCI-488LPA
데이터 시트 설명
낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드
액세서리 KUSB-488B
데이터 시트 설명
IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터
데이터 시트 액세서리 설명
보기 데이터 시트 2000-BENCHKIT 여러 모델 벤치 변환 키트
237-ALG-15 낮은 노이즈 3축 케이블 15M(50FT)
보기 데이터 시트 237-ALG-2 낮은 노이즈 3축 케이블
보기 데이터 시트 237-TRX-BAR 3 러그 F/3 러그 F 3축
2600-ALG-2 낮은 노이즈 3축 케이블(엘리게이터 클립 포함)
보기 데이터 시트 2600-BAN 바나나 잭(Banana Jack) 인터페이스 케이블
보기 데이터 시트 2600B-PM-2 단자 블록 커넥터가 포함된 1.5A/200V 보호 모듈
2600-DEMO-TRX 3축 - 피닉스 데모 전용
보기 데이터 시트 2600-FIX-TRX 2600 SMU를 고/저 3축에 연결하는 케이블
보기 데이터 시트 2600-KIT 2600 시리즈 나사 단자 커넥터 키트
보기 데이터 시트 2600-TLINK 2600 시리즈 트리거 I/O - TLINK 인터페이스 케이블
보기 데이터 시트 2600-TRIAX 2600 시리즈용 3축 어댑터
보기 데이터 시트 4299-1 대형 랙 마운트 키트 2600 시리즈 단일 장치
보기 데이터 시트 4299-10 1개의 2U 그래픽 디스플레이 장비 및 1개의 시리즈 26XX 장비용 이중 고정 랙 마운트 키트
보기 데이터 시트 4299-2 장치 2대용 대형 랙 마운트 키트
4299-5 1U 통풍구 패널
보기 데이터 시트 4804 BNC(MALE) - 3축(FEMALE) 어댑터
보기 데이터 시트 7007-1 절연 GPIB 케이블(1M/3.2피트)
보기 데이터 시트 7007-2 절연 GPIB 케이블(2M/6.5피트)
보기 데이터 시트 7007-3 절연 GPIB 케이블(3M/10피트)
보기 데이터 시트 7007-4 절연 GPIB 케이블, 4M(13FT)
보기 데이터 시트 7010 IEEE 어댑터
보기 데이터 시트 7078-TRX-1 3슬롯 3축 케이블, 1피트
보기 데이터 시트 7078-TRX-10 3슬롯 3축 케이블, 10피트
보기 데이터 시트 7078-TRX-12 3러그 3축 케이블, 12피트
보기 데이터 시트 7078-TRX-20 3슬롯 3축 케이블, 20피트
보기 데이터 시트 7078-TRX-3 3슬롯 3축 케이블, 3피트
보기 데이터 시트 7078-TRX-5 3슬롯 3축 케이블
7078-TRX-6IN 3슬롯 낮은 노이즈 3축 케이블,6인치(.15M)
보기 데이터 시트 7078-TRX-BNC 3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터
보기 데이터 시트 7078-TRX-GND 3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터(보호 장치 제거된 상태)
보기 데이터 시트 7078-TRX-TBC 3러그 3축 BULKHD 커넥터
보기 데이터 시트 8101-4TRX 4핀 트랜지스터 고정기
보기 데이터 시트 8606 모듈형 프로브 키트
보기 데이터 시트 KPCI-488LPA 낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드
보기 데이터 시트 KUSB-488B IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터
Watch the video to see how a Keithley source measure unit (SMU) instrument tightly integrates a power supply, digital multimeter (DMM), electronic load, and current source.
1m 26s
Watch this webinar to get tips for measuring 2- and 3-terminal semiconductor devices and for using source measure unit instruments during the design process.
33m 6s
At the heart of the rapidly increasing number of 3D sensing applications are VCSELs/Laser Diodes, making it more critical than ever to have repeatable and accurate DC electrical test methods for …
55m 20s
In our webinar we look at ten common applications, from LEDs and Laser Diodes to measuring power efficiency of power management ICs and solar cells. Each case highlights how a Source Measure Unit …
59m 14s
See how Keithley 2600B Series Source Measure Unit instruments speed up R&D testing, saving you time during set-up and debug, and offer unique capabilities for remote testing and data sharing. 
3m 21s
Characterizing semiconductor devices using source measure units and graphical user interfaces is a crucial part of the design process. In this webinar, you will learn how SMUs can characterize …
33m 5s
KickStart Instrument Control Software Version 2.2.1 (Windows 10, 8, 7 compatible)
KickStart Software for the PC enables quick test setup and data visualization when using one or more instruments. Key Features • Save time by automating data collection of millions of readings. • Set up a multi-instrument test with the ability to …

부품 번호: KICKSTART-2.2.1
애플리케이션
#2626 High Throughput DC Production Testing of Laser Diode Modules and VCSELs with the Model 2602B System SourceMeter Instrument
애플리케이션 노트
Creating Multi-SMU Systems with High Power System SourceMeter Instruments Application Note
애플리케이션 노트
Pulse Testing of Laser Diodes

참고자료 번호: 1KW-61212-0
백서
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
브로슈어
Measuring Laser Diode Optical Power with an Integrating Sphere
This white paper offers an overview on using an integrating sphere to measure the optical power of radiant sources in a production environment.
백서
How do I create an I-V Characterizer test that uses more than one SMU Instrument?
Use the “Instruments” button in the I-V Characterizer app toolbar to access the “Add Channels” button to add more SMU instruments to your test.   You can add up to 4 SMU instruments in a single I-V Characterizer app.
FAQ ID470091
Does Kickstart support the 2600? The 2600A or 2600B?
Kickstart version 1.9.8 or greater does support the 2600A and 2600B models. Kickstart does not work with the non-A or non-B 2600 instrument models.
FAQ ID255366
Keithley Instruments Software and Documentation Downloads
Document that provides descriptions of some of the software, drivers, and documentation that is available on the website.

This document describes the content that is available for download from the tek.com/Keithley website.
부품 번호: 071352701
사용자
2600B Source Measure Units (SMU) Instruments
Datasheet
KickStart Quick Start Guide

KickStart Instrument Control Software lets you start making measurements in minutes without complex instrument programming. KickStart allows you to do I-V characterization, data acquisition and logging, and power supply control on a variety of Keithley products.


부품 번호: KKS-903-01H
주 사용자
Models 2611B, 2612B, and 2614B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide
Models 2611B, 2612B, and 2614B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Series 2600B System SourceMeter® instrument provides manufacturers of electronic components and semiconductor devices with an instrument that combines source and measurement capabilities in a single source-measure unit (also called a SMU).
부품 번호: 2612B-903-01D
주 사용자
Models 2634B, 2635B, and 2636B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide
Models 2634B, 2635B, and 2636B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Series 2600B System SourceMeter® instrument provides manufacturers of electronic components and semiconductor devices with an instrument that combines source and measurement capabilities in a single source-measure unit (also called a SMU).
부품 번호: 2636B-903-01D
주 사용자
Models 2601B, 2602B, and 2604B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide
Models 2601B, 2602B, and 2604B System SourceMeter Instruments Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Series 2600B System SourceMeter® instrument provides manufacturers of electronic components and semiconductor devices with an instrument that combines source and measurement capabilities in a single instrument called a source-measure unit (also called a SMU).
부품 번호: 2602B-903-01D
주 사용자
Series 2600B System SourceMeter Instrument Reference Manual
Series 2600B System SourceMeter Instrument Reference Manual

This manual includes advanced operation topics and maintenance information. Programmers looking for a command reference and users looking for an in-depth description of the way the instrument works (including troubleshooting and optimization) should refer to this manual.


부품 번호: 2600BS-901-01E
주 사용자
Model 2600-FIX-TRX Grounded Phoenix-to-Triax Cable Adapter
Model 2600-FIX-TRX Grounded Phoenix-to-Triax Cable Adapter instructions Instructions

The Model 2600-FIX-TRX Grounded Phoenix-to-Triax Cable Adapter is a combination dual triax connector and low-noise chassis ground banana-plug connector that provides easy connection pathways between the rear-panel terminal blocks.
부품 번호: PA-1004C
사용자
Keithley Instruments Safety Precautions
Safety Precautions PA

This document contains safety information for Keithley Instruments products.


부품 번호: 071341102
사용자
Model 174710700 Shielded LAN Crossover Cable
The Model 174710700 is a shielded twisted-pair Category 5e LAN crossover cable that allows triggering and communications between ethernet-enabled instruments and TSP-Link enabled instruments.

This document describes the characteristics of the Model 174710700 Shielded LAN Crossover Cable.


부품 번호: 077143400
사용자
Model 4299-2 Universal Dual Unit Adjustable Heavy-Duty Rack-Mount Kit
Model 4299-2 Universal Dual Unit Adjustable Heavy-Duty Rack-Mount Kit

This document provides information about Model 4299-2 Universal Dual Unit Adjustable Heavy-Duty Rack-Mount Kit parts and installation.


부품 번호: PA-909G
사용자
Model CA-558 3-Pin Interlock Connector Cable
Model CA-558 3-Pin Interlock Connector Cable User Manual

This document contains information about the Model CA-558 3-Pin Interlock Connector Cable available lengths and electrical characteristics.
부품 번호: PA-1044B
사용자
Model 2636B-PCT-KIT Accessory Kit
Model 2636B-PCT-KIT Accessory Kit User Manual

Keithley Model 2636B-PCT-KIT Accessory Kit
부품 번호: 071326701
PCT-DOC-KIT PCT Accessories
PCT-DOC-KIT PCT Accessories Instructions

This document lists the parts that are supplied with each Parametric Curve Tracer (PCT) configuration.
부품 번호: 071330201
사용자
Models 2601B, 2602B and 2604B System SourceMeter Instrument Specifications
MODELS 2601B, 2602B, AND 2604B SYSTEM SOURCEMETER INSTRUMENT SPECIFICATION User Manual

Models 2601B, 2602B and 2604B System SourceMeter Instrument Specifications


부품 번호: SPEC-2602BB
사용자
Parametric Curve Tracer Open Me First Instructions
Open Me First Accessory Kit Guide User Manual

Parametric Curve Tracer Open Me First Instructions
부품 번호: 071327200
Series 2600 System SourceMeter User's Manual
User Manual

Series 2600 System SourceMeter User's Manual
부품 번호: 2600S-900-01C
사용자
Series 2600A System SourceMeter User's Manual
User Manual

Series 2600A System SourceMeter User's Manual
부품 번호: 2600AS-900-01B
사용자
Keithley Network Connection Tutorial for Ethernet Based Instruments
User Manual

Keithley Network Connection Tutorial for Ethernet Based Instruments


부품 번호: KDOC-1554-0
사용자
KickStart Instrument Control Software Version 2.2.0 (Windows 10, 8, 7 compatible)
"KickStart Software for the PC enables quick test setup and data visualization when using one or more instruments. Key Features • Save time by automating data collection of millions of readings. • Set up a multi-instrument test with the …

부품 번호: KICKSTART-2.2.0
애플리케이션
KickStart Instrument Control Software Version 2.1.1 (Windows 10, 8, 7 compatible)
"KickStart Software for the PC enables quick test setup and data visualization when using one or more instruments. Key Features • Save time by automating data collection of millions of readings. • Set up a multi-instrument test with the …

부품 번호: KICKSTART-2.1.1
애플리케이션
KickStart Instrument Control Software Version 2.1.0 (Windows 10, 8, 7 compatible)
"KickStart Software for the PC enables quick test setup and data visualization when using one or more instruments. Key Features • Save time by automating data collection of millions of readings. • Set up a multi-instrument test with the …

부품 번호: KICKSTART-2.1.0
애플리케이션
Test Script Builder Software Suite Version J03 (Windows 10, 8, 7, Vista Compatible)
"Keithley Instruments Test Script Builder (TSB) is a software tool that simplifies building and creating test scripts. It includes built-in color coding, debugging tools, and error handling. You can use TSB to perform the following operations: …

부품 번호: KTS-850J03
애플리케이션
Keithley Sequence Tools Library
This is a TSP script that installs support for list sweeps with an arbitrary mix of voltage and current steps on Series 2600B and 2650A SMU instruments.

부품 번호: 2600B-SEQUENCE-V1.00
애플리케이션
Keithley I/O Layer version C10 (Windows 10, 8, 7 Compatible)
Keithley I/O Layer version C10 (KIOL-850C10 adds support for Windows 10 Operating System and installs NI-VISA Runtime 17.5 and NI-ICP 17.0. This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05 …

부품 번호: KIOL-850C10
애플리케이션
Series 2600B Firmware v3.3.5 and Release Notes -- Do not install on non-B
"Series 2600B Firmware v3.3.5 and Release Notes -- Do not install on non-B(changes in this release apply only to models 2601B, 2602B, 2604B)."

부품 번호: 2600B-FRP-V3.3.5
펌웨어
Test Script Builder Software Suite Version J02 (Windows 10, 8, 7, Vista Compatible)
"Keithley Instruments Test Script Builder (TSB) is a software tool that simplifies building and creating test scripts. It includes built-in color coding, debugging tools, and error handling. You can use TSB to perform the following operations: …

부품 번호: KTS-850J02
애플리케이션
IVI-COM Driver for Series 2600A/2600B System SourceMeters (KE26XXA IVI-COM Driver v1.8.0.0)
New Ke26XXA IVI Driver version 1.8.0.0 for 2600A/2600B Series Models (added support for new model 2606B).

부품 번호: 2600A-IVI-1.8.0
드라이버
KickStart Instrument Control software Version 1.9.8 (use with HRMA app)
Easy to use instrument control software Required for use with KickStart’s High Resistance Measurement App (HRMA) For all other apps, consider KickStart 2 as a replacement Compatible with Windows 7, Windows 8 and Windows 10.

부품 번호: KICKSTART-1.9.8
애플리케이션
Keithley I/O Layer - version C07 (Windows 8, 7, Vista, and XP Compatible)
Keithley I/O Layer version C07 (KIOL-850C07 adds a change to only send the :syst:rem command to RS-232 connections This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05, KIOL-850C06). This version …

부품 번호: KIOL-850C07
애플리케이션
Series 2600B Firmware V3.2.2 and Release Notes -- DO NOT INSTALL ON NON-B
This zip file contains version 3.2.2 of Series 2600B firmware and release notes. DO NOT install this firmware on 2600 non-B models!

부품 번호: 2600B-FRP-V3.2.2
펌웨어
Series 2600A Firmware Version 2.2.6 and Release Notes -- DO NOT INSTALL ON NON-A
2600A-series V2.2.6 Firmware and Release Notes. Not for non-A versions of the instruments and not for 265XA versions of the instruments.

부품 번호: 2600A-FRP-V2.2.6
펌웨어
Series 2600B Firmware v3.2.1 and Release Notes -- Do not install on non-B
This zip file contains version 3.2.1 of Series 2600B firmware and release notes. DO NOT install this firmware on 2600 non-B models!

부품 번호: 2600B-FRP-V3.2.1
펌웨어
Series 2600B Firmware v3.1.0 and Release Notes -- Do not install on non-B
This zip file contains version 3.1.0 of Series 2600B firmware and release notes. DO NOT install this firmware on 2600 non-B models!

부품 번호: 2600B-FRP-V3.1.0
펌웨어
Series 2600B Firmware v3.0.4 and Release Notes -- Do not install on non-B
This zip file contains version 3.0.4 of Series 2600B firmware and release notes.

부품 번호: 2600B-FRP-V3.0.4
펌웨어
Series 2600B Firmware v3.0.3 and Release Notes -- Do not install on non-B
This zip file contains version 3.0.3 of Series 2600B firmware and release notes.

부품 번호: 2600B-FRP-V3.0.3
펌웨어
Series 2600B Firmware v3.0.1 and Release Notes -- Do not install on non-B
This zip file contains version 3.0.1 of Series 2600B firmware and release notes.

부품 번호: 2600B-FRP-V3.0.1
펌웨어
TSP Script for Series 2600B SMUs to Emulate Model 2400 SMUs
TSP Script for Series 2600B SMUs to Emulate Model 2400 SMUs.

부품 번호: 2600B-EMUL2400
애플리케이션
Keithley Series 2600/2600A/2600B Native LabVIEW 2009 Instrument Driver version 2.5.0
Native LabVIEW Driver for 2600, 2600A, 2600B Series v2.5.0 (LabView 2009 or higher) (updated for new 2600B series models)

부품 번호: 2600-LV-2.5.0
드라이버
Keithley LXI Discovery Browser (VXI-11 only)
Keithley LXI Discovery Browser (VXI-11 only)

부품 번호: LXI-DISC-2.0.0.31
애플리케이션
IVI-COM Driver for Series 2600A/2600B System SourceMeters (KE26XXA IVI-COM Driver v1.4.5.0)
New Ke26XXA IVI Driver version 1.4.5.0 for 2600A/2600B Series Models(added support for new 2600B series models).

부품 번호: 2600A-IVI-1.4.5
드라이버
Optoelectronics Test Selector Guide
제품 선택 가이드
FOUR KEY TESTS: Validating MOSFET Performance in Power Supply Designs
If you need to evaluate MOSFET devices, download our poster to learn the test specification and technique, test configuration and the typical results for the four key MOSFET tests.Download the poster to learn about these four key tests:Drain Family …

참고자료 번호: 1KW-60515-0
포스터
Optimizing Reliability Testing of Power Semiconductor Devices and Modules
애플리케이션 노트
Demand for Higher Power Semi Devices Will Require Pushing Instrumentation to New Extremes
기술 자료
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
애플리케이션 노트
7 Keys to Detecting Potential DUT Issues - Minimize Troubleshooting Time and Boost Productivity

참고자료 번호: 1KW-60606-0
포스터
Keithley Pulse Solutions
브로슈어
Thermal Guidelines for Rack-Mounting Series 2600/2600A/2600B Instruments (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
팩트 시트
Maximize Speed and Throughput for Semiconductor Measurements
포스터
LLCR Pin Socket Testing with the Model 3732 High Density Matrix Card
애플리케이션 노트
Laser Diode Array Test for 3D Sensing
This application note describes how to integrate bench instruments effortlessly into a holistic system and achieve industry’s best trigger synchronization and maximum throughput for any automated or production environment.

참고자료 번호: 1KW-61291-1
애플리케이션 노트
Low Current Measurements
애플리케이션 노트
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

참고자료 번호: 1KW-1559-0
핸드북
Migrating Test Applications from the Keithley Model 2400 SourceMeter SMU Instrument to a Series 2600B System SourceMeter SMU Instrument
애플리케이션 노트
Maximize Speed and Throughput for Semiconductor Measurements Using Source Measure Units (SMUs)
포스터
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology
Rev 3.15.13
핸드북
Automotive Solutions Brochure
The pace of change in automotive electronics has never been faster, resulting in safer, more efficient, and more connected vehicles. Technologies such as high-speed data communications, wireless communications, radar, and power supplies underpin …

참고자료 번호: 45W-60646_1
브로슈어
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as …
포스터
Your Guide to Creating High Performance Switching Applications
팩트 시트
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
팩트 시트
#2647 IDDQ Testing and Standby Current Testing with Series 2600 System SourceMeter Instruments (also Applicable to Series 2600B)
job #2647
애플리케이션 노트
#2605 Increasing Production Throughput of Multi-pin Devices with Keithley Series 2600 System SourceMeter Instruments (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
2606B System SourceMeter Instrument Specifications
This document contains specifications and supplemental information for the 2606B System SourceMeter Instrument.

참고자료 번호: SPEC-2606B
사양
#2633 Diode Production Testing with Series 2600 System SourceMeter Instruments (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
#2639 High Speed Testing of High Brightness LEDs (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
#2616 Converting a Series 2400 SourceMeter SCPI Application to a Series 2600 System SourceMeter Script Application
애플리케이션 노트
#2814 On-The-Fly Vth Measurement for Bias Temperature Instability Characterization (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
Applications Guide - Techniques for Multi-Channel Testing and Data Acquisition
팩트 시트
Creating Scaleable, Multipin, Multi-Function IC Test Systems Using the Model 2602 System SourceMeter Instrument (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
Combining the Benefits of LXI and Scripting
기술 자료
Connecting 2600B SMU Instruments to Mobile Devices
Two diagrams show you how to easily connect your 2600B Series Source Measure Unit (SMU) Instrument to an Android or iOS mobile device.   Download the PDF to read more:

참고자료 번호: 1KW-60603-0
사용 방법 가이드
New Materials and Devices E-Guide
브로슈어
New Test Sequencing Instruments Lower Cost of Test for Device Manufacturers (also Applicable to Series 2600B)
백서
New Breed of Semiconductors Demands New Breed of Semi Characterization and Test Solutions
기술 자료
Source Measure Units - Save Time, Space and Money and Make Multiple Measurements Accurately Using a Single Instrument
Learn how the integrated five-in-one functionality of just one source measure unit (SMU) instrument eliminates many of the issues associated with using multiple instruments, including workspace clutter, measurement insight delays and much higher …

참고자료 번호: 1KW-61419-0
브로슈어
Source Measurement Unit (SMU) Instruments Simplify Characterizing a Linear Voltage Regulator's DC Performance
기술 자료
SMU-Per-Pin System Architecture Supports Fast, Cost-Effective Variation Characterization (also Applicable to Series 2600B)
백서
Simplifying DC-DC Converter Characterization

참고자료 번호: 1KW-60105-1
애플리케이션 노트
Simplifying FET Testing with Series 2600B System SourceMeter SMU Instruments
This application note explains how to simplify I-V measurements on FETs using a Series 2600B System SourceMeter SMU Instrument with the TSP® Express embedded software tool.The Series 2600B family of one- and two-channel SMUs offers a range of …

참고자료 번호: 1KW-57501-1
애플리케이션 노트
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

참고자료 번호: 55W_30503_2
브로슈어
Source Meters Selection Guide
선택 가이드
Methods to Achieve Higher Currents from I-V Measurement Equipment
애플리케이션 노트
Models 2634B, 2635B, and 2636B System SourceMeter Instrument Specifications
Models 2634B, 2635B and 2636B System SourceMeter Instrument Specifications

참고자료 번호: SPEC-2636BB
사양
Models 2611B, 2612B and 2614B System SourceMeter Instrument Specifications
Models 2611B, 2612B and 2614B System SourceMeter Instrument Specifications

참고자료 번호: SPEC-2612BB
사양
Choosing the Optimal Source Measurement Unit Instrument for Your Test and Measurement Application (also Applicable to Series 2600B)
백서
Techniques for Proper and Efficient Characterization, Validation, and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices
팩트 시트
Testing a New Switch Mode Power Supply Design Poster
Get a quick overview of the key measurements for verifying a new switch mode power supply (SMPS) design.  This poster shows key measurements, from verifying your prototype during initial startup, to optimizing switching loss and magnetic losses, to …

참고자료 번호: 46W-60156-0
포스터
Accurate, Cost-Effective High Brightness LED Testing Starts with Device Fundamentals
기술 자료
#2889 Optimizing Switched Measurements with the Series 3700 System Switch/Multimeter and Series 2600 System SourceMeter Instruments Through the Use of TSP (also Applicable to Series 2600B)
애플리케이션 노트
Powering Results with Precision and Simplicity e-Guide
팩트 시트
Power Supply Measurement Tips
Designing a bench power supply is a complex process with numerous steps. With this guide, we will follow a simple work flow and provide testing tips at each of 10 design stages. Hopefully you will find a few that will make your testing more effective …

참고자료 번호: 46A_60180-2
브로슈어
Power Testing Applications for Today's Automobiles
브로슈어
On-The-Fly Threshold Voltage Measurement for BTI Characterization
기술 자료
Optimizing Low-Current Measurements and Instruments
백서
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
브로슈어
Discover the Industry Standard for LED Electrical Test
브로슈어
Testing High Brightness LEDs Accurately and Cost-Effectively in a Production Environment
기술 자료
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
애플리케이션 노트
Test Methods for Automobile Communication and Control Systems
팩트 시트
Using the Arbitrary Waveform Capabilities of the Series 2600B and Series 2650A System SourceMeter SMU Instruments to Perform Ford EMC Power Cycling Testing
Learn how to use a Source Measure Unit (SMU) with high-current arbitrary waveform capability for automotive power cycling testing. This app note describes a detailed procedure for performing Ford EMC-CS-2009.1 CI 230 Power Cycling Testing using the …
애플리케이션 노트
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
애플리케이션 노트
Rapidly Expanding Array of Test Applications Continues to Drive Source Measurement Unit Instrument Technology (also Applicable to Series 2600B)
백서
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
백서
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
애플리케이션 노트
Enhancing Trigger Synchronization for High Volume Production Testing of VCSELs
This application note uncovers several effective test methodologies for achieving a highly synchronized trigger system on a Keithley Series 2600B SMU instrument.

참고자료 번호: 1KW-61292-1
애플리케이션 노트
Embedded Script Processors and Embedded Software Rank among the Most Significant T&M Instrument Design Trends of the Last Decade
기술 자료
Understanding Control Systems and Communications for Today's Automobiles
팩트 시트
Using Forward Voltage to Measure Semiconductor Junction Temperature
기술 자료
Source Measure Unit (SMU) Instruments Selector Guide
This selector guide will help you determine which of Keithley's source measure unit (SMU) instruments is ideal for your testing needs.

참고자료 번호: 1KW-61458-0
제품 선택 가이드
Source Measure Unit Instruments - The Tool of Choice for Emerging R&D Applications
팩트 시트
Guide to Measuring New Materials and Devices
핸드북
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
팩트 시트
E-Handbook to Understanding Electrical Test and Measurement
팩트 시트
Understanding Power Testing Applications for Today's Automobiles
브로슈어
Understanding Essential Tools and Techniques for Power Conversion Efficiency Testing
팩트 시트
Simplifying DC-DC Converter Characterization with a Series 2600B System SourceMeter SMU Instrument and an MSO/DPO5000 or DPO7000 Series Scope
Learn about techniques for precisely characterizing a DC-to-DC converter using a source/measure unit, including:EfficiencyLoad regulationLine regulation Techniques for using an oscilloscope to measure turn-on time and performing spectral analysis of …

참고자료 번호: 1KW-60105-2
애플리케이션 노트
Models 2601B, 2602B and 2604B System SourceMeter Instrument Specifications

Models 2601B, 2602B and 2604B System SourceMeter Instrument Specifications
부품 번호: SPEC-2602BB
Models 2611B, 2612B and 2614B System SourceMeter Instrument Specifications

Models 2611B, 2612B and 2614B System SourceMeter Instrument Specifications
부품 번호: SPEC-2612BB
Models 2634B, 2635B, and 2636B System SourceMeter Instrument Specifications Manual
User Manual

Models 2634B, 2635B and 2636B System SourceMeter Instrument Specifications
부품 번호: SPEC-2636BB
사용자