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2601B-PULSE 10µsec Purser/SMU

시스템 SourceMeter® 10µsec Pulser/SMU(소스 측정 장치) 장비는 측정을 포함한 고전류/고속 펄서의 기능과 기존 SMU의 전체 기능이 결합되어 있는 단일 장비입니다. 최대 10V 및 10A에서 10μs 펄스 출력 및 1MS/s 디지타이징 기능은 벤치 탑 특성 분석에서 고도로 자동화된 펄스형 I-V 생산 테스트에 이르는 다양한 애플리케이션의 생산성을 향상시킵니다.
채널

1 Pulser / 1 SMU

Pulser V/I Range

1μA - 10A
1μV - 10V

SMU V/I Range

100fA - 10A
100nV - 40V

Accuracy

Pulser: 0.05%
SMU: 0.015%

최대 속도

1 M readings/s

매뉴얼 튜닝 없이도 고충실도 전류 펄스 출력 가능

2601B-PULSE의 제어 루프 시스템은 최대 3μH의 유도부하 변화에 대해 수동으로 조할 필요가 없어 최대 10A까지의 모든 전류 레벨에서 펄스를 10μs에서 최대 500μs로 출력 할 때 펄스에 오버슈트 및 링잉이 발생하지 않도록 보장합니다. 펄스 상승 시간이 1.7 μs 미만이면 테스트중인 장치 또는 회로를 올바르게 특성화 할 수 있습니다.

  • 10μs 펄스 폭으로 10A @ 10V
  • Output 10 A @ 10 V with a 10 μs pulse width
  • High fidelity pulse output without tuning at any current level
KI10A RiseTime
2601B Pulse Pulser Plus SMU

SMU과 짧은 펄스 생성을 하나의 장비에 통합

2601B-PULSE는 업계 최고의 키슬리 2601B SMU 장비가 자랑하는 우수한 측정 무결성, 동기화, 속도 및 정확도 기능에 펄서 기능이 더해졌습니다.

  • 1MS/s 디지타이징으로 펄서의 0.05%의 기본 측정 정확도 제공
  • 100fA 민감도의 SMU 100nA 저전류 범위
  • 빠른 케이블 설정을 위한 후면 패널 BNC 연결

탁월한 생산 처리량을 위한 임베디드 스크립팅 및 연결

TSP®(Test Script Processor) 기술은 SMU 장비 내에 완벽한 테스트 프로그램을 포함하고 실행하여 업계 최고의 성능을 제공합니다. TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 32개의 TSP-Link 노드 확장할 수 있습니다.

  • 시간이 오래 걸리는 PC와의 버스 통신 제거
  • 고급 데이터 처리 및 흐름 제어
  • 최대 32개의 TSP-Link 노드 연결
  • 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능
2601B PUlse Embedded Scripting
모델 채널 최대 전류 소스/측정 범위 최대 전압 소스/측정 범위 측정 분해능(전류/전압) 전원 정가
2601B-PULSE 1 10 A 40 V 100 fA / 100 nV Pulser: 100 W instantaneous
SMU: 200 W instantaneous
US $13,700
구성 및 견적
모델 채널 최대 전류 소스/측정 범위 최대 전압 소스/측정 범위 측정 분해능(전류/전압) 전원 정가
2601B-PULSE 1 10 A 40 V 100 fA / 100 nV Pulser: 100 W instantaneous
SMU: 200 W instantaneous
US $13,700
구성 및 견적
2601B-Pulse LIDAR

ToF/LIDAR 응용 분야에 대한 레이저 다이오드(VCSEL) 생산 테스트

레이저 다이오드 VCSEL(vertical cavity surface emitting laser) LIV 생산 테스트를 위한 이상적인 솔루션인 2601B-PULSE는 레이저 다이오드 모듈 및 VCSEL, VCSEL 어레이의 전류 펄스 소싱 및 전압 전류 모니터링을 위해 높은 정확도의 고속 10μs 펄서 및 SMU를 갖추고 있습니다. SMU는 높은 시스템 동기화 및 처리량을 제공하는 가장 경제적인 LIV 장비입니다.

  • 최대 10A 및 10μs 펄스 폭의 프로그래밍 가능 전류 소스
  • 100nV 및 100fA의 전압 및 전류 측정 분해능
  • 내장된 TSP® 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신 감소

고장 분석 및 품질 보증

반도체 엔지니어들은 현장에서 장치의 고장을 예방할 수 있는 방법을 끊임없이 찾고 있습니다. 반도체 고장 분석(FA) 엔지니어는 장치에서 고장이 발생하는 이유와 향후 이를 예방할 수 있는 방법을 파악하기 위해 수없이 많은 시간을 할애하고 있습니다.

  • SMU와 펄스 테스트로 FA 프로세스 간소화
  • 디지털 I/O로 외부 IR 카메라 트리거
  • 1μs의 해상도와 ±100ppm의 정확도를 갖춘 타이머 기능 내장.
2601B-Pulse Pulsed DC I-V LED Characterization

LED의 펄스형/DC I-V 특성화를 단순화

2601B-PULSE의 고유한 전류 펄스, DC 전압 및 전류 기능은 0.015 % 기본 측정 정밀도로 고속 LED DC 및 펄스형 IV 특성화 및 생산 테스트를 가능하게 합니다. 마이크로 LED, LED 또는 높은 밝기 LED(HBLED)의 펄스 테스트는 자체 발열을 최소화하고 측정 정확도에 대한 부정적인 영향을 줄이며 피시험 장치의 손상에 대한 우려를 없애줍니다.

  • 최대 10A 및 10μs 펄스 폭의 프로그래밍 가능 전류 소스
  • 100nV 및 100fA의 전압 및 전류 측정 분해능
  • 빠른 소스 및 측정 데이터 수집을 위한 1 MS/s Digitizer
  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬

온-웨이퍼 반도체 테스트

키슬리 2601B-PULSE 및 기타 시리즈 2600B 시스템 SourceMeter® SMU 장비는 랙앤스택(rack-and-stack) 장비의 확장성과 유연성을 TSP 및 TSP-Link 기술을 사용하여 메인프레임 기반 시스템의 통합 및 높은 처리량과 결합하여 제조 공간을 줄여주고 테스트 비용을 절감합니다. 이 장비는 레이저 다이오드, LED, 트랜지스터 등의 온-웨이퍼 반도체 테스트에 일상적으로 사용됩니다.

  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬
  • TSP-Link 기술을 통해 다른 Keithley TSP 장비와 500ns 동기화 시 최대 32개의 장비 연결
2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing

Keithley KickStart 장비 제어 소프트웨어 프로그래밍이 필요하지 않습니다.

KickStart를 사용하여 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다. 프로그래밍하지 않고도 기기 및 소재를 빠르고 쉽게 특성화할 수 있으며, 그래픽 및 표 형식으로 실시간 결과를 시각화할 수 있습니다. 신속하게 보고하거나 추가 분석하기 위해 데이터 표나 그래프를 Excel로 내보낼 수 있습니다.

  • 단일 또는 스윕 펄스 테스트를 신속하게 생성
  • 동시 측정으로 전압 및 전류 소스의 선형, 로그, 목록 및 듀얼 스윕 생성
  • 최대 4개의 SMU(Source Measure Unit) 장비를 지원하는 I-V 특성화 애플리케이션
  • Windows OS에서 GPIB, USB, 이더넷 연결
Keithley Kickstart IV Characterization Plot

Automated Control from Lab to Fab

Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.

  • Perform simple 1-off tests or build complex project trees
  • Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
  • Manual or automated wafer prober control
  • Data management and statistical analysis capabilities

Start Automating

장비 성능을 극대화하는 무료 스크립트 개발자 환경 지원

TSB(테스트 스크립트 작성기)는 Keithley의 TSP®(테스트 스크립트 프로세서) 활성 장비를 위한 간편한 테스트 스크립트 작성 기능을 제공하는 소프트웨어 도구입니다.

  • 장비로 명령을 전송하고 장비에서 응답 받기
  • 사용자 스크립트 생성/관리/실행
  • 스크립트 디버깅
  • 초기 상태 스크립트를 가져와 확인하거나 편집하여 사용자 스크립트로 변환

TSB 소프트웨어 다운로드

Keithley Test Script Builder
액세서리 2600-BAN
데이터 시트 설명
바나나 잭(Banana Jack) 인터페이스 케이블
액세서리 2600-KIT
데이터 시트 설명
2600 시리즈 나사 단자 커넥터 키트
액세서리 2601B-PULSE-CA1
데이터 시트 설명
2601B-PULSE 1.2미터 50옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
액세서리 2601B-PULSE-CA2
데이터 시트 설명
2601B-PULSE 3미터 50옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
액세서리 2601B-PULSE-CA3
데이터 시트 설명
2601B-PULSE 3.0 meter 15 Ohm BNC to BNC cable kit
액세서리 2601B-PULSE-CA3
데이터 시트 설명
2601B-PULSE 3.0미터 15옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
액세서리 4299-1
데이터 시트 설명
대형 랙 마운트 키트 2600 시리즈 단일 장치
액세서리 4299-2
데이터 시트 설명
장치 2대용 대형 랙 마운트 키트
액세서리 7078-TRX-GND
데이터 시트 설명
3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터(보호 장치 제거된 상태)
액세서리 8101-PIV
데이터 시트 설명
PIV 데모 Fixture
액세서리 8606
데이터 시트 설명
모듈형 프로브 키트
액세서리 KPCI-488LPA
데이터 시트 설명
낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드
액세서리 KUSB-488B
데이터 시트 설명
IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터
데이터 시트 액세서리 설명
보기 데이터 시트 2600-BAN 바나나 잭(Banana Jack) 인터페이스 케이블
보기 데이터 시트 2600-KIT 2600 시리즈 나사 단자 커넥터 키트
보기 데이터 시트 2601B-PULSE-CA1 2601B-PULSE 1.2미터 50옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
보기 데이터 시트 2601B-PULSE-CA2 2601B-PULSE 3미터 50옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
보기 데이터 시트 2601B-PULSE-CA3 2601B-PULSE 3.0 meter 15 Ohm BNC to BNC cable kit
보기 데이터 시트 2601B-PULSE-CA3 2601B-PULSE 3.0미터 15옴 BNC ~ BNC 케이블 키트
보기 데이터 시트 4299-1 대형 랙 마운트 키트 2600 시리즈 단일 장치
보기 데이터 시트 4299-2 장치 2대용 대형 랙 마운트 키트
보기 데이터 시트 7078-TRX-GND 3슬롯 3축(수) - BNC 어댑터(보호 장치 제거된 상태)
보기 데이터 시트 8101-PIV PIV 데모 Fixture
보기 데이터 시트 8606 모듈형 프로브 키트
보기 데이터 시트 KPCI-488LPA 낮은 프로필 IEEE-488 인터페이스 보드
보기 데이터 시트 KUSB-488B IEEE-488.2 USB-GPIB 인터페이스 어댑터