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SMU(Source Measure Unit)란?

SMU(Source Measure Unit)는 소스 전압 또는 전류를 정밀하게 측정하거나, 전압 및/또는 전류를 동시에 측정할 수 있는 장비입니다. 이는 DMM(디지털 멀티미터), 파워 서플라이, 전류 소스, 전자 부하기 및 펄스 발생기의 유용한 기능을 소형 폼팩터에 조밀하게 동기화된 하나의 장비에 통합해 줍니다. SMU는 측정 장비의 다양한 기능과 정확도 높은 성능을 갖춰 이 다섯 가지 장비가 결합된 것보다 더 유용합니다.

모든 SMU

SMU(Source Measure Unit) 선택 가이드

데모 요청

2470 SMU front image for product series

키슬리 2400 그래픽 터치스크린 시리즈 SMU

  • 나노 구조 소재 연구
  • 전력 반도체 GaN, SiC
  • 바이오센서 개발
  • 반도체 장치 설계
  • 자동차 센서 설계
2602B Front

SMU 2600B: 단일 또는 듀얼 채널 시스템

  • Ideal for Bench or Production
  • 소싱 범위: 최대 10A 펄스, 200V, 200W
  • 측정 범위: 최하 0.1fA, 100nV
  • 고속 임베디드 프로그래밍
2601B-Pulse

2601B-PULSE SourceMeter® 10μs Pusler/SMU 장비

  • Ideal for Bench or Production
  • 최대 10V 및 10A에서 10µs의 펄스
  • 1μs, 18비트 샘플링 속도
Keithley 2420 SMU

키슬리 2400 표준 시리즈 SMU

  • 레지스터/레지스터 네트워크 생산 테스트
  • 커넥터, 릴레이, 스위치 테스트
  • 가속 스트레스 테스트
  • 회로 보호 장치 테스트
  • 소재 연구

SMU 2650 시리즈(고전력용)

  • 소싱 범위: 최대 50A 펄스, 3000V, 2000W
  • 측정 범위: 최하 1fA, 1uV
  • 100A 전류 소스에 대해 2개 연결
  • 1us, 18비트 샘플링 속도
SMU2606B

SMU 2606B: 고밀도 SMU

  • Four channels in 1U form factor
  • Stackable; no thermal spacing requirements
  • Measure down to 100fA, 100nV
2510 Optical SMU for Laser Diode

레이저 다이오드의 광학 SMU

  • 통합 펄스 LIV 시스템
  • 듀얼 채널 포토다이오드 측정
  • 옵션인 통합 스피어

소스 측정 유닛용 소프트웨어

몇 분 이내에 소싱 및 측정을 시작하고 다음 애플리케이션 테스트를 개발하십시오.
Keithley Kickstart Main Screen

벤치 장비 및 Tektronix 오실로스코프용 Keithley KickStart 제어 소프트웨어

복잡한 프로그래밍 없이 몇 분 이내에 측정을 시작하고, I-V 특성화 등의 작업을 수행할 수 있습니다.

Keithley IV Tracer

Keithley I-V 트레이서 소프트웨어

전류 및 전압 모두를 통해 특성화를 추적하기 위한 2단자 장치용 커브 트레이서의 익숙한 사용자 경험을 재현합니다.

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학습 센터

2단자 및 3단자 장치에서 SMU를 사용하여 IV 곡선을 얻는 방법 및 SMU가 테스트 설정을 간소화하고 생산성을 늘릴 수 있는 방법과 같은 기본 측정 개념부터 주요 산업 애플리케이션까지 소스 측정 유닛(SMU)의 기본 사항에 대해 알아봅니다.
프라이머

테스트 및 측정 애플리케이션에 대한 최적의 소스 측정 유닛 장비 선택하기

이 포괄적인 백서에서는 테스트 및 측정 애플리케이션을 위한 SMU 장비의 실제 이점과 신호를 동시에 소싱 및 측정하는 기능에 대해 자세히 알아볼 수 있습니다.

솔루션 개요

DC-DC 컨버터 특성 간소화

DC-DC 컨버터는 출력 전압을 조정하면서 DC 전원을 한 전압 레벨에서 다른 레벨로 전환하는 널리 사용되는 전자 구성 요소입니다. 이 솔루션 개요에서는 키슬리 2채널 시리즈 2600B 시스템 SourceMeter SMU 장비 및 Tektronix 오실로스코프를 사용하여 DC-DC 컨버터 테스트를 간소화하는 방법을 설명합니다.

애플리케이션 노트

고전압 반도체 장치에서 브레이크다운 및 누설 전류 측정

키슬리는 오랫동안 고전력 반도체 장치 테스트에서 강한 존재감을 드러냈습니다. 최근에 키슬리는 SiC 및 GaN 장치 테스트의 까다로운 측정 문제를 해결하기 위해 2470 1.1kV Graphical SourceMeter® 소스 측정 장치를 도입했습니다. 이 애플리케이션 노트는 새로운 소스 측정 유닛을 키슬리의 KickStart 소프트웨어와 함께 고전압 반도체에 적용하는 것을 고려합니다.

애플리케이션 노트

2601B-PULSE 시스템 SourceMeter® 장비를 사용하여 Clean 10µs 펄스 생성

LIDAR용 VCSEL 또는 다른 광전자 장치를 특성화하는 데 고품질 전류 펄스를 출력하면 많은 문제가 발생합니다.  이 애플리케이션 노트를 읽고 최소 10μs의 전류 펄스를 쉽게 소싱하고 장치의 자체 발열을 최소화하는 방법을 알아보십시오.