Keithley ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어

Keithley ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어

ACS는 반도체 장치 특성화, 안정성 테스트, 파라메트릭(parametric) 테스트 및 구성 요소 기능 테스트용으로 설계된 유동적인 대화형 소프트웨어 테스트 환경입니다. ACS는 폭넓은 Keithley 장치와 Keithley의 S500 및 S530 시스템을 모두 지원합니다. 테스트 및 분석을 매우 유동적으로 수행할 수 있으며, 직관적인 GUI가 제공되므로 초보자도 즉시 생산성을 높일 수 있습니다.

  • 직관적인 GUI를 통해 테스트 플랜 개발, 테스트 실행 및 결과 분석을 간편하게 수행할 수 있습니다.
  • 장치, 현장, 웨이퍼 및 카세트 수준에서 테스트를 개발하고 실행할 수 있습니다.
  • 다중 SMU 병렬 테스트 시스템을 포함한 폭넓은 장비 및 시스템 구성이 지원됩니다.
  • 반자동 및 완전 자동 프로버를 완벽하게 제어할 수 있습니다.
  • 대화형/실시간으로 데이터 도표를 작성할 수 있습니다.

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기준 가격 범위
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Keithley ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어
모델 설명 정가
ACS-BASIC

ACS Basic Edition은 주로 수동 프로브 스테이션 또는 테스트 고정기를 사용한 반도체 구성 요소 테스트에 사용됩니다. "추적 모드"를 사용하면 초기 장치 특성화를 대화형으로 빠르게 수행할 수 있습니다. GUI 기반 설정 화면과 포괄적인 측정 라이브러리를 사용하여 상세 파라미터 추출 테스트를 만들 수도 있습니다.

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구성 및 견적
ACS.

ACS는 전체 웨이퍼에 걸친 반도체 장치 측정을 위한 폭넓은 반자동 및 완전 자동 프로버를 지원합니다. 개별 장치 테스트를 위해 프로버를 대화형으로 제어할 수도 있습니다. 런타임 동안 개별 장치 결과 및 다중 장치 통계를 사용하여 테스트 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다.

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구성 및 견적
모델 ACS-BASIC
설명

ACS Basic Edition은 주로 수동 프로브 스테이션 또는 테스트 고정기를 사용한 반도체 구성 요소 테스트에 사용됩니다. "추적 모드"를 사용하면 초기 장치 특성화를 대화형으로 빠르게 수행할 수 있습니다. GUI 기반 설정 화면과 포괄적인 측정 라이브러리를 사용하여 상세 파라미터 추출 테스트를 만들 수도 있습니다.

설명

ACS는 전체 웨이퍼에 걸친 반도체 장치 측정을 위한 폭넓은 반자동 및 완전 자동 프로버를 지원합니다. 개별 장치 테스트를 위해 프로버를 대화형으로 제어할 수도 있습니다. 런타임 동안 개별 장치 결과 및 다중 장치 통계를 사용하여 테스트 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다.

ACS란?

ACS는 반도체 장치의 상세 특성화를 위해 광범위한 테스트를 수행하는 엔지니어용의 강력한 소프트웨어 프레임워크입니다. 업계 최고 수준을 자랑하는 Keithley의 폭넓은 SMU 장비 및 시스템 라인에서 ACS를 사용할 수 있습니다. 그러면 웨이퍼(wafer) 또는 카세트(cassette) 레벨에서 테스트를 자동화하여 표준 ACS를 통해 자동 프로버를 제어할 수 있습니다. 수동 또는 단일 장치 테스트의 경우 ACS Basic Edition을 사용할 수 있습니다. 또한 고급 다중 DUT WLR(웨이퍼 레벨 안정성)을 원하는 경우에는 표준 ACS를 ACS-2600-RTM 옵션과 함께 사용할 수 있습니다.  또는 아래에서 다양한 애플리케이션, 측정 하드웨어 및 ACS 기능에 대해 자세히 알아보십시오!

구성 요소 특성화

MOSFET, 양극 트랜지스터, 다이오드, 고전력 IGBT 등의 개별 반도체 구성 요소에 대해 다양한 상세 테스트 및 측정 결과를 만들고 관리할 수 있습니다. 아래에서 Keithley의 광범위한 "측정 기능"과 해당 설명을 확인해 보십시오.

왼쪽의 측정 기능을 클릭하면 해당 설명을 확인할 수 있습니다.

ACS 소프트웨어
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ACS는 전체 웨이퍼에 걸친 반도체 구성 요소 측정을 위한 폭넓은 반자동 및 완전 자동 프로버를 지원합니다. 개별 장치 테스트를 위해 프로버를 대화형으로 제어할 수도 있습니다. 런타임 동안 개별 장치 결과 및 다중 장치 통계를 사용하여 테스트 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다.

ACS Basic Edition 소프트웨어

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ACS Basic Edition은 주로 수동 프로브 스테이션 또는 테스트 고정기를 사용한 반도체 구성 요소 테스트에 사용됩니다. "추적 모드"를 사용하면 초기 장치 특성화를 대화형으로 빠르게 수행할 수 있습니다. GUI 기반 설정 화면과 포괄적인 측정 라이브러리를 사용하여 상세 파라미터 추출 테스트를 만들 수도 있습니다. ACS Basic은 ACS Basic 내에서 분석하거나 다른 오프라인 분석 도구로 내보낼 수 있도록 실시간 결과를 신속하게 제공합니다.

시리즈 2600B 시스템 SourceMeter ® SMU(소스 측정 장치) 장비
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시리즈 2600B SourceMeter SMU 장비에는 MOSFET 및 BJT와 같은 다중 단자 반도체 테스트에 적합한 듀얼 채널 장치가 포함되어 있습니다. 또한 Keithley의 TSP-Link®는 SMU 장비 간의 정밀한 타이밍과 조직화된 제어를 제공합니다. 시리즈 2600 제품군의 다양한 모델 중에서 특정 전압 및 전류 사양에 맞는 모델을 선택할 수 있습니다. 자세한 내용을 확인하려면 여기 를 클릭하십시오.

시리즈 2650A 고전력 시스템 SourceMeter SMU(소스 측정 장치) 장비
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시리즈 2650A 고전력 SourceMeter SMU 장비는 다양한 테스트 구성에서 사용할 수 있습니다. 3kV 또는 50A 펄스(최대 2,000W 펄스 또는 200W DC)를 소싱 및 측정할 수 있습니다. 또한 동급 최고의 저전류 기능을 통해 누설 측정을 매우 효과적으로 수행할 수 있습니다. 저전력 시리즈 2600B SourceMeter SMU 장비와의 통합 시스템 구성에는 키슬리의 TSP-Link®를 사용할 수 있습니다. 자세한 내용을 확인하려면 여기 를 클릭하십시오.

PCT 구성

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Keithley의 파라메트릭 곡선 트레이서 구성은 고성능 장비, 케이블, 테스트 고정기 및 소프트웨어를 포함한 전력 장치 특성화를 위한 완벽한 특성화 솔루션입니다. 브레이크 다운 전압과 같은 기본적인 장치 파라미터를 빠르게 확인할 수 있는 실시간 추적 모드와, 정밀한 장치 파라미터 추출을 위한 전체 파라메트릭 모드를 각각 제공하는 7가지 구성을 사용할 수 있습니다.

모델 4200-SCS 파라미터 분석기
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모델 4200-SCS 파라미터 분석기의 200V/1A SMU 및 400V C-V 기능은 반도체 구성 요소 특성화에 적합합니다. 2650A 고전력 SourceMeter SMU 장비를 사용하여 4200-SCS를 구성하면 최대 3kV 또는 50A까지 테스트가 가능합니다. ACS Basic Edition 소프트웨어를 통해 이와 같은 광범위한 키슬리 기능을 사용하여 테스트를 만들고 실행할 수 있습니다. 자세한 내용을 확인하려면 여기 를 클릭하십시오.

S500 통합 테스트 시스템
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S500 통합 테스트 시스템에서는 키슬리의 완벽한 턴키 솔루션을 사용할 수 있습니다. 고도로 구성 가능한 이들 시스템은 기술 개발 테스트 스테이션을 위한 폭넓은 측정 기능을 통합할 수 있습니다. 자동 웨이퍼 프로버를 사용하는 처리량이 높은 다중 장치 테스트의 경우에는 ACS의 자동화 기능을 S500 시스템과 함께 사용할 수도 있습니다. 자세한 내용을 확인하려면 여기 를 클릭하십시오.

 

데이터 시트액세서리설명
ACS-2600-RTM ACS의 안정성 테스트 옵션
ACS Basic Software Reference Manual The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support…The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands.
부품 번호: ACSBASIC-901-01G
Primary User
ACS Software Quick Start Guide The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic…The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test.
부품 번호: ACS-903-01E
Primary User
ACS Software Reference Manual The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's…The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands. 
부품 번호: ACS-901-01L
Primary User
ACS Basic Software Quick Start Guide The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections,…The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test. 
부품 번호: ACSBASIC-903-01C
Primary User
ACS Automated Characterization Suite Software

부품 번호: 1KW-61545-0
데이터 시트
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

부품 번호: 1KW-2996-2
데이터 시트
ACS-2600 RTM User's Manual
ACS-2600 RTM USERS MANUAL
부품 번호: ACS2600RTM-900-01B
Primary User
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
with Automated Characterization Suite (ACS) Software
Application Note 09 Nov 2018
ACS SOFTWARE VERSION 5.2.1 RELEASE NOTES
ACS Software version 5.2.1 Release Notes
부품 번호: PA-1008K
User
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
Application Note 08 Aug 2017
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
Technical Article 08 Aug 2017
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
Whitepaper 08 Aug 2017
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Brochure 30 May 2017
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
Application Note 05 Feb 2017
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Increasing time to market and cost of test pressures means that test engineers must do more with less. Leveraging Keithley’s proven instrumentation and measurements, ACS integrated test systems fill an important gap between interactive laboratory-based…
Application Note 08 Aug 2016
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