Keithley 정밀 DC 및 AC+DC 낮은 노이즈 전류 소스

Keithley 정밀 DC 및 AC+DC 낮은 노이즈 전류 소스

모델 6220 DC 전류 소스와 모델 6221 AC 및 DC 전류 소스는 간편하게 사용할 수 있는 동시에 전류 노이즈는 매우 낮습니다. 연구 개발, 생산 등과 같은 테스트 환경(특히 반도체, 나노 기술, 초전도체 업계)에서 사용하는 경우 저전류 소싱이 매우 중요합니다. 소싱 정확도가 높으며 제어 기능이 내장되어 있는 모델 6220과 6221은 홀 측정, 델타 모드를 사용하는 저항 측정, 펄스 측정 및 차동 전도도 측정과 같은 적용 분야에 적합합니다.

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기준 가격 범위
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Keithley 초고감도 전류 소스 시리즈 6200

특징

장점

10 14 Ω 출력 임피던스 광범위한 출력 임피던스가 제공되므로 부하에 전류를 안정적으로 소싱할 수 있습니다.
65,000 포인트 소스 메모리 전류 소스에서 직접 포괄적인 테스트 전류 스윕을 실행할 수 있습니다.
출력 전압 컴플라이언스 0.1V~105V(10mV씩 증가) 과전압이 발생하기 쉬운 장치의 손상 가능성을 방지할 수 있습니다.
4pA~210mA 피크-피크 AC 전류 소싱(6221) 구성 요소와 소재의 AC 특성화가 지원됩니다.
10MHz 출력 업데이트 속도(6221) 최대 100kHz의 매끄러운 사인파가 발생합니다.
주파수 범위가 1mHz~100kHz인 내장된 표준 및 임의 파형 발생기(6221) 복잡한 프로그래밍 가능 부하 또는 센서 신호로 사용하거나 노이즈 에뮬레이션에 사용할 수 있습니다.
최소 5μs까지 펄스 폭 프로그래밍 가능(6221) 취약한 저전력 구성 요소의 전력 소모를 제한할 수 있으며, 모델 2182A 나노 전압계와 함께 사용하는 경우 최저 50μs까지의 펄스 I-V를 측정할 수 있습니다.
재구성할 수 있는 3축 출력 단자 적용 분야의 보호 요구 사항을 쉽게 충족할 수 있습니다.

모델

모델 전류 저항 스윕 포인트 PC 인터페이스 내부 파형 발생기 정가
6220 ±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k) GPIB, RS-232 -
-
구성 및 견적
6221 ±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k) GPIB, RS-232, 이더넷 1mHz~100kHz(출력 업데이트 속도 초당 1천만 개 샘플)
-
구성 및 견적
모델 6220
전류저항스윕 포인트
±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k)
PC 인터페이스
GPIB, RS-232
모델 6221
전류저항내부 파형 발생기
±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

1mHz~100kHz(출력 업데이트 속도 초당 1천만 개 샘플)
스윕 포인트PC 인터페이스
65,536(64k)GPIB, RS-232, 이더넷
모델 전류 저항 스윕 포인트 PC 인터페이스 내부 파형 발생기 정가
6220 ±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k) GPIB, RS-232 -
-
구성 및 견적
6221 ±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k) GPIB, RS-232, 이더넷 1mHz~100kHz(출력 업데이트 속도 초당 1천만 개 샘플)
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구성 및 견적
모델 6220
전류저항스윕 포인트
±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

65,536(64k)
PC 인터페이스
GPIB, RS-232
모델 6221
전류저항내부 파형 발생기
±(100fA~100mA)

10nΩ~200MΩ(2182A 필요)

1mHz~100kHz(출력 업데이트 속도 초당 1천만 개 샘플)
스윕 포인트PC 인터페이스
65,536(64k)GPIB, RS-232, 이더넷
데이터 시트액세서리설명
2000-BENCHKIT 여러 모델 벤치 변환 키트
237-ALG-15 낮은 노이즈 3축 케이블 15M(50FT)
237-ALG-2 낮은 노이즈 3축 케이블
The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall Effect and van der Pauw measurements for calculating sample resistivity and mobility among other parameters as well as…
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Characterization of New Materials and Devices Nanotechnology, Printed and Bio Electronics, and Energy
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Models 6220 Current Source Specifications Rev. B Manual
Model 6220 Programmable Current Source Specifications Rev. B
부품 번호: SPEC-6220B
사용자
MODEL 6221 AC AND DC CURRENT SOURCE INSTRUMENT SPECIFICATION
MODEL 6221 AC AND DC CURRENT SOURCE INSTRUMENT SPECIFICATION REV C
부품 번호: SPEC-6221C
사용자
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
백서 12 Mar 2016
Model 6220 DC Current Source and Model 6221 AC and DC Current Source
데이터 시트
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source Reference Manual
Reference Manual, Rev. C for the Model 6220 DC Current Source and the Model 6221 AC and DC Current Source
부품 번호: 622X-901-01C
User
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source User's Manual
User's Manual, Rev. C for the Model 6220 DC Current Source and the Model 6221 AC and DC Current Source.
부품 번호: 622X-900-01C
Primary User
Keithley I/O Layer version C10 (Windows 10, 8, 7 Compatible)
Keithley I/O Layer version C10 (KIOL-850C10 adds support for Windows 10 Operating System and installs NI-VISA Runtime 17.5 and NI-ICP 17.0. This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05, KIOL-…
부품 번호: KIOL-850C10
Application
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data…
Technical Article 11 Nov 2018
High Impedance Semiconductor Resistivity and Hall Effect Test Configurations
Brochure 11 Nov 2018
Install v2.7 of the Free Example Software for the Models 6220/6221.

부품 번호: 6220-EXMPL-2.7
Application
Keithley I/O Layer - version C07 (Windows 8, 7, Vista, and XP Compatible)

부품 번호: KIOL-850C07
Application
Keithley Instruments Safety Precautions Safety Precautions PA
This document contains safety information for Keithley Instruments products.
부품 번호: 071341102
User
622x Native LabView 2009 Driver version 1.0.0 - Project Style

부품 번호: 622X-LV-1.0.0
Driver
6220/6221 IVI Driver for Visual Basic (VB), VC/C++, Labview (LV) and LabWindows CVI, Rev. B01.1 (6.4Mb) - Requires Installation of Keithley I/O Layer (KIOL-850)

부품 번호: 622X-855B011
Driver
6220/6221 Firmware Revision A05

부품 번호: 6221-801A05
Firmware
6220/6221 Firmware revision A04

부품 번호: 6221-801A04
Firmware
6220/6221 Firmware Revision D03

부품 번호: 6221-801D03
Firmware
Flashwizard version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)

부품 번호: FLASH-WIZARD-C12
Firmware
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
Thermoelectric voltages are the most common cause of reading drift in low resistance measurements. They are caused by differences in temperature between different parts of the measurement circuit
Technical Article 08 Aug 2017
New dG Measurement Methods Reveal Nanodevice Characteristics Faster, at Lower Cost
AC current sources are now available that can quickly characterize the differential conductance of nanoscale devices, including those that exhibit negative dG. When combined with a sensitive nanovoltmeter, these two instruments eliminate the need for…
Technical Article 08 Aug 2017
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology
Handbook 08 Aug 2017
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
This application note explains how to measure resistivity and determine conductivity type of semiconductor materials with a four-point collinear probe and the 6221 DC and AC Current Source.
Application Note 08 Aug 2017
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
Anyone involved in the design, manufacture, application. or repair of fuel cells or fuel cell-powered devices needs cell data that is available only through direct electrical measurements. When properly interpreted, this data not only provides an…
Technical Article 08 Aug 2017
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