Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

4200A-SCS를 사용하여 반도체 장치, 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있습니다. 최고 성능의 파라미터 분석기인 4200A-SCS는 전류 - 전압(I-V), 커패시턴스 - 전압(C-V) 및 초고속 펄스형 I-V 측정에 대한 동기화된 정보를 제공합니다.

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실시간 문의
DC 전류-전압
(I-V) 범위

10aA - 1A
0.2µV – 210V

커패시턴스-전압
(C-V) 범위

1kHz – 10MHz
± 30V DC 바이어스

펄스형 I-V
범위

±40V(80V p-p), ±800mA
200MSa/sec, 5ns 샘플링 레이트

 

Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

빠르고 선명한 파라메트릭 분석 정보 제공

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확실한 분석을 수행하는 것은 결코 쉬운 일이 아닙니다. 4200A-SCS 파라미터 분석기는 특성화 복잡성 및 테스트 설정을 최대 50%까지 줄여 명확하고 탁월한 측정 및 분석 기능을 제공합니다. 또한 업계 최초의 임베디드 측정 기술을 통해 테스트 지침을 제공하고 결과에 대한 최고의 확신을 부여합니다.

주요 특징

  • 영어, 중국어, 일본어, 한국어로 제작된 측정 비디오 포함
  • 사용자가 수정할 수 있는 수백 개의 애플리케이션 테스트로 테스트 시작
  • 자동화된 실시간 파라미터 추출, 데이터 그래프 작성, 산술 함수

측정. 전환. 반복

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4200A-CVIV 멀티 스위치는 프로버 팁을 다시 케이블링하거나 들어 올리지 않고 I-V 및 C-V 측정을 자동으로 전환합니다. 경쟁업체 제품과 달리 4채널 4200A-CVIV 디스플레이는 예상치 못한 결과가 발생할 경우 신속한 테스트 설정 및 손쉬운 문제 해결을 위해 국부적인 시각적 통찰력을 제공합니다.

주요 특징

  • 다시 케이블링하지 않고 C-V 측정을 모든 장치 단자로 옮김
  • 저전류 공급 능력을 위해 사용자 구성 가능
  • 출력 채널 이름 개인화
  • 실시간으로 테스트 상태 보기

특성화. 사용자 정의. 최대화

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간단히 말해 4200A-SCS는 완전히 사용자 정의가 가능하며 업그레이드가 가능하므로 반도체 장치, 신소재, 액티브/패시브 구성 요소, 웨이퍼 레벨 안정성, 고장 분석, 전기 화학 또는 사실상 모든 유형의 샘플에 대한 전기 특성 평가 및 평가를 수행할 수 있습니다.

주요 특징

  • NBTI/PBTI 테스트
  • 무작위 전신 노이즈
  • 비휘발성 메모리 장치
  • 전위 가변기 애플리케이션 테스트

분석 프로버 및 극저온 컨트롤러와 통합된 솔루션

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4200A-SCS 파라미터 분석기는 Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336 극저온 온도 컨트롤러를 비롯하여 많은 수동 및 반자동 웨이퍼 프로버 및 극저온 컨트롤러를 지원합니다.

주요 특징

  • "지정 및 클릭" 테스트 시퀀스
  • "수동" 프로버 모드에서 프로버 기능 테스트
  • 가짜 프로버 모드를 통해 명령을 제거하지 않고 디버깅 수행 가능

비용 절감 및 투자 보호

Keithley 케어 플랜은 요청 시 서비스 이벤트 비용의 일부만으로 신속한 고품질 서비스를 제공합니다. 클릭 한 번이나 전화 한 통화로 수리 보증을 확보하여 견적서나 구매 주문서가 필요하지 않고 승인이 지연되지도 않습니다.

자세히 보기

데이터 시트 모델 설명 가격
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK1
고분해능 IV
210V/100mA, 0.1fA 분해능
2 및 3단자 장치의 경우 MOSFET, CMOS 특성화 패키지 4200A-SCS-PK1 에 포함되는 구성 요소는 다음과 같습니다.
  • 4200A-SCS 파라미터 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (1) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK2
고분해능 IV & CV
210V/100mA, 0.1fA 분해능, 1kHz - 10MHz
κ 유전이 높은 경우 서브미크론 미만 단위의 상세 CMOS 특성화 패키지 4200A-SCS-PK2 에 포함되는 구성 요소는 다음과 같습니다.
  • 4200A-SCS 파라미터 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (1) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 4210-CVU 커패시턴스 전압 모듈
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200A-SCS-PK3
고분해능 및 고전력 IV & CV
210V/1A, 0.1fA 분해능, 1kHz - 10MHz
전력 장치의 유전이 높은 경우 서브미크론 미만 단위의 상세 CMOS 장치 특성화 패키지 4200A-SCS-PK3 에 포함되는 구성 요소는 다음과 같습니다.
  • 4200A-SCS 파라미터 분석기
  • (2) 4200-SMU 모듈
  • (2) 4210-SMU
  • (1) 4200-PA 프리앰프
  • (1) 4210-CVU 커패시턴스 전압 모듈
  • (1) 샘플 장치가 포함된 8101-PIV 테스트 픽스쳐
견적 요청
데이터 시트 보기 4200-BTI-A
초고속 NBTI/PBTI
최첨단 실리콘 CMOS 기술에서 정교한 NBTI/PBTI 측정의 경우 패키지 4200-BTI-A 에 포함되는 구성 요소는 다음과 같습니다.
  • (1) 4225-PMU 초고속 I-V 모듈
  • (2) 4225-RPM 원격 프리앰프/스위치 모듈
  • ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어
  • 초고속 BTI 테스트 프로젝트 모듈
  • 케이블링
견적 요청

반도체 안정성

4200A-SCS에서 복잡한 코딩에 유의하도록 하면서 복잡한 안정성 테스트를 수행합니다. HCI(Hot Carrier Injection Degradation)과 같은 포함된 프로젝트는 장치 분석을 빠르게 시작할 수 있도록 지원합니다.

주요 특징

  • DC I-V, C-V 및 펄스 측정을 하나의 테스트 세트에 결합
  • 여러 프로브 스테이션 및 외부 장비에 대한 지원 포함
  • 사용하기 쉬운 사이클 시스템을 사용하여 코딩 없이 반복 측정 가능

높은 임피던스 응용 사례에 대한 C-V 측정

Keithley의 사용자 정의 초저주파수 C-V 기법을 사용하여 높은 저항 샘플의 커패시턴스를 분석합니다. 이 기법은 SMU(Source Measure Unit) 장비만 사용하여 수행되지만 더 높은 주파수 측정을 위해 4210-CVU와 함께 사용할 수도 있습니다.

주요 특징

  • 1pF - 10nF 민감도의 .01 - 10Hz 주파수 범위
  • 3½ digits 일반 분해능, 최소 일반 10fF

Non-volatile 메모리

완벽한 펄스형 I-V 특성화로 테스트에 새로운 기술을 투입합니다. 4200A-SCS에는 플로팅 게이트 플래시부터 ReRAM 및 FeRAM에 이르는 NVRAM 기술에 대한 지원 및 실행 준비가 완료된 테스트가 포함되어 있습니다. 전류 및 전압에 대한 듀얼 소싱 및 측정 기능을 통해 과도 및 I-V 도메인 특성화가 가능합니다.

VCSEL 테스트

4200A-SCS의 여러 동시 SMU(Source Measure Unit) 장비로 레이저 다이오드 테스트를 간편하게 수행할 수 있습니다. 단일 박스에만 연결된 LIV(광도-전류-전압) 곡선을 생성합니다. 고급 프로브 스테이션 및 스위치 지원으로 이제 개별 다이오드 또는 전체 배열의 웨이퍼상 프러덕션 테스트에 같은 장비를 사용할 수 있습니다. SMU는 다양한 CW(연속파) VCSEL 응용 사례의 최대 21W 용량에 대해 구성할 수 있습니다.

나노급 장치 특성화

4200A-SCS의 통합 장비 기능은 탄소 나노 튜브와 같은 나노급 전자 제품을 개발할 때의 측정 요구 사항을 간소화합니다. 미리 구성된 테스트 프로젝트에서 조사를 시작하고 작업 영역을 확장합니다. SMU의 펄스형 소스 모드는 저전압 C-V 및 초고속 펄스형 DC 측정(초 단위)과 결합되어 과열 문제를 줄이는 데 도움을 줍니다.

물질 저항률

통합 SMU와 함께 4200A-SCS를 사용하여 4포인트 공직선형(collinear) 프로브 또는 면저항 측정법(van der Pauw)으로 저항률을 쉽게 측정할 수 있습니다. 포함된 테스트는 반복적인 면저항 측정 계산을 자동으로 수행하여 귀중한 연구 시간을 절감합니다. 최대 전류 분해능 10aA 및 10­­­­16ohms 초과 입력 임피던스를 사용하여 보다 정확하고 정밀한 결과를 얻을 수 있습니다.

MOSFET 특성화

4200A-SCS는 컴포넌트 또는 웨이퍼상 테스트를 통해 MOS 장치의 전체 특성화에 필요한 모든 장비를 보유할 수 있습니다. 포함된 테스트 및 프로젝트는 MOSCap의 산화물 두께, 임계 전압, 도핑 농도, 이동 이온 농도 등을 해석합니다. 이러한 모든 테스트는 단일 장비 박스의 버튼을 터치하여 실행할 수 있습니다.

데이터 시트 모듈 설명 구성 및 견적
4200-BTI-A 초고속 BTI PKG 구성 및 견적
4200-PA 원격 프리앰프 모듈 구성 및 견적
4200-SMU 중간 전력 SMU(소스 측정 장치) 구성 및 견적
4200A-CVIV I-V/C-V 멀티 스위치 모듈 구성 및 견적
4210-CVU 커패시턴스-전압 장치 구성 및 견적
4210-SMU 고전력 소스 측정 장치 구성 및 견적
4220-PGU 고전압 펄스 발생기 장치 구성 및 견적
4225-PMU 초고속 펄스 측정 장치 구성 및 견적
4225-RPM 원격 프리앰프/스위치 모듈 구성 및 견적
4200-SMU-R 필드 교체식 MPSMU 구성 및 견적
4210-SMU-R 필드 교체식 HPSMU 구성 및 견적
표제유형날짜
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Literature number: 1KW-60826-0
애플리케이션 노트 02 Aug 2016
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
애플리케이션 노트 22 Mar 2016
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.
Part number: 071348701
17 Jul 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.5
Application 15 Jun 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.5 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132606
15 Jun 2018
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual User‚s manual for the 4200A CV-IV multi-switch.
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User‚s Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.
Part number: 4200A-CVIV-900-01C
Primary User 15 Jun 2018
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction…The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius,…
Part number: 4200A-901-01E
Primary User 15 Jun 2018
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Literature number: 1KZ-61313-0
Application Note 11 Jun 2018
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literature number: 1KW-60780-4
데이터 시트 10 Jun 2018
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Literature number: 1KW-61388-0
Application Note 10 May 2018
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Literature number: 1KW-60158-1
Application Note 25 Apr 2018
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Literature number: 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
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