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반도체

설계에서 시장 출시까지 지원

SiC 및 GaN과 같은 새로운 반도체 소재를 사용할 때는 개발 중에 고유한 문제가 발생하는 경우가 많습니다.

고속 디지털 인터페이스에서는 PHY 검증 사이클 속도가 빨라야 합니다. 따라서 설계자는 디버깅과 프로토콜 디코딩을 보다 빠르게 수행하고 크로스토크 등의 소스에서 지터와 노이즈를 식별해야 합니다.

여러 전기 검증 테스트로 인한 시간 부족