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고속 시리얼 통신
차세대 디지털 인터페이스 표준(시리얼, 메모리, 디스플레이 등)은 다음을 비롯한 여러 고속 Tx 및 Rx 설계 문제를 야기하는 오늘날의 컴플라이언스 및 디버그 도구의 문제를 증폭시킵니다.
- 소형 장치 구조로 인한 제한된 신호 액세스
- 새로운 절전 체계에서의 버스 동작
- 신호 인터페이스에서 새 신호 인코딩 및 평준화 기능 검증
- 여러 전기 검증 테스트로 인한 시간 부족
텍트로닉스는 PHY 검증 사이클 속도를 높이고 일관성을 보장하는, 자동화된 측정 제품군을 제공합니다. 컴플라이언스 측정이 실패할 경우 프로토콜 디코딩 및 비주얼 트리거 등과 같은 도구로 디버깅 속도를 높일 수 있습니다. 크로스토크(cross talk)나 기타 다중 레인 노이즈 커플링(multi-lane noise coupling) 등과 같은 소스로부터 지터 및 노이즈를 식별할 수 있습니다.
표준 및 기술
Featured Content
PCIe, SAS, SATA 테스트 및 디버그 가속화
이처럼 차세대 데이터 속도 및 스토리지 표준을 충족하기 위해서는 현재 세대의 기능을 제공하면서 32Gb/s까지 확장할 수 있는 엔드 투 엔드 솔루션(end-to-end)이 필요합니다.
설계 테스트를 및 디버그를 가속화하는 방법을 알아보십시오.
Consumer Standards over Type-C
Type-C 커넥터는 소비자 표준 USB 3.1, DisplayPort 1.4 및 Thunderbolt의 통합을 제공합니다. 이는 새로운 설계의 설계 비용을 낮게 유지하면서 생산에서 최적의 전기적 마진을 유지하는 것이 어렵다는 과제가 있다는 것을 의미합니다.
이 새로운 과제에 대처하는 방법을 발견하십시오.
고속 인터페이스 표준 온라인 가이드
이 무료 온라인 가이드는 PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB 및 DDR4 표준의 설계 과제에 관해 자세히 알 수 있도록 도움을 줍니다. 설계 과제를 이해하고 자신의 테스트 요구에 적합한 솔루션을 선택하도록 도움을 주는 기술 리소스에 빠르게 액세스할 수 있습니다.
Library
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PCI Express® Transmitter PLL Testing — A Comparison of Methods
There are several methods of measuring PLL loop response, based on the type of test instrumentation used. As expected, the various methods trade off test accuracy, test speed (throughput), ease of us...
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Characterizing an SFP+ Transceiver at the 16G Fibre Channel Rate
Study the measurements needed to test an SFP+ transceiver to the 16G Fibre Channel standard, covering both Multi- Mode 850 nm and Single Mode 1310 nm interfaces. Included is a test and characterizati...
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High Speed Interface Standards
This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical ...
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Fast+ Efficient Solutions for DVI Conformance Measurement Challenges
Tektronix provides all the DVI measurement solutions you need, ranging from high-bandwidth digital phosphor oscilloscopes (DPO) to probes to application-specific software. Tektronix has solved tough m...
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Probing Tips for High Performance Design and Measurement
When a high performance system or component needs to be verified, it often requires attaching an oscilloscope probe. For high speed circuits, the effect of attaching a probe often cannot be ignored. ...
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Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement
As high speed serial data rates continue to increase, the need to maximize margin in measurements increases. Coaxial cables, even good quality ones can impact the measurement margin. Remote heads for ...
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Demystify MIPI D-PHY and C-PHY Transmitter and Receiver Physical Layer Test
During this webinar, you'll gain an understanding of MIPI test challenges for both MIPI high-speed physical layers. You'll also get useful tips and technical insights into characterizing and validatin...
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How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation
This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series Oscillo...
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