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웨비나

~計測の最前線~ 次世代技術最新計測Webセミナ

5/19/2021 - 5/20/2021

11:00 AM - 3:00 PM JST

次世代技術最新計測Webセミナ・シリーズとして「マルチギガビット車載用Ethernet」「DDR5」二つのWebセミナを開催します。
5Gや自動運転技術の加速により、膨大なデータ量の高速かつ信頼性の高いデータ転送が、ますます重要になります。
この二日間はDDR5/LPDDR5及びマルチギガビット車載用Ethernetにおける最新の技術動向や計測課題、テスト・ソリューションなどをご紹介します。皆様のご参加をお待ちしております。

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웨비나

PCI Express Gen5の規格動向とTx/Rx新ソリューション

5/21/2021

9:30 AM - 11:50 AM JST

サーバやストレージを始めとする広い分野で普及が進むPCI Expressは高速化を続け、最高32G T/s のGen5の規格が策定されました。最新のGen5では、大容量化という大きなメリットをもたらす一方、シグナルインテグリティの確保はこれまで以上に難しくなってきます。

アンリツ株式会社とテクトロニクスはこの課題を解決するために業界トップクラスの測定ソリューションを提供します。このWebセミナでは、PCI Expressの最新規格動向に加え、Gen5のRx、Txのテスト・ソリューション、測定手法について、それぞれアンリツ株式会社、テクトロニクスから解説いたします。

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Correlating Semiconductor Device Performance versus Data Sheet Specification III: Integrated Parametric Measurements with the 4200A-SCS

6/9/2021

11:00 AM SGT

The datasheet of a semiconductor device provides an engineer with its key characteristics and suitability for a given application.

Engineers often find that parts sourced from unauthorized channels may not behave according to the warranted specifications. This will cause unwanted issues which can be complex to fix upon integration into finished products.

In this final episode of a 3-part series, we will be evaluating the key characteristics of a packaged-level DUT using the Keithley 4200A -SCS Parametric Analyzer.

Join us for a live demonstration where we will be validating a semiconductor device against its datasheet specifications. Sign up today!

반도체

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웨비나

[On Demand] Tektronix 4/5/6 Sereis MSO Latest New Features

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Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

Register today!

임베디드 설계

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웨비나

TIFオンデマンドWebセミナ~Tektronix Innovation Forum

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2020年の10月に開催した「TIF2020オンライン~テクトロニクス・イノベーション・フォーラム」より厳選した9セッションがオンデマンドWebセミナとしてご覧いただけるようになりました。見逃してしまったセッションがございましたら、ぜひご覧ください。

  • 車載Ethernet PAM3の測定とプロトコル・デコード
  • DDRメモリの測定/デバッグの実例とTIPS
  • EMI/ノイズ・トラブルシューティングの新提案
  • 高効率スイッチング電源と三相モータ・ドライブ
  • パワー・インテグリティ: 電源品質測定ソリューション
  • MIPI: MIPI D-PHY 物理層の評価
  • 高速伝送路と高速信号の基礎および基板回路デバッグ実例
  • USB3.2、USB4の規格動向とその測定に関して

전력 효율성 및 IoT

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[On Demand] Speeding Up Test and Analysis of Your Inverters and Motor Drives

요청 시

Measurements and analysis on three-phase power systems are inherently more complex than on single-phase systems. Although oscilloscopes can capture voltage and current waveforms with high sample rates, further calculations are required to produce key power measurements from the data.

Learn how Inverter Motor and Drive Analysis (IMDA) software from Tektronix makes it easier than ever to perform three-phase analysis and correlation of control timing and power output characteristics on devices such as AC induction motors, permanent magnet synchronous motors (PMSM), and brushless DC (BLDC) motors. Sign up to watch on demand.

전력 효율성 및 IoT

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웨비나

これでSMUが分かる~仕組みから測定事例まで~オンデマンド・セミナ

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4回にわたってソースメータ(SMU)による試験効率化の方法を徹底解説ソースメータ(SMU)とは?
車載Ethernet 電源やマルチメータと何が違う?皆様からよく頂くご質問にお答えし、SMUの基礎から測定実例や応用アプリケーションなどを交えた入門セミナがオンデマンドでご視聴いただけます。 より深くご理解頂くために、4回にわたって、仕組みから様々な測定事例までSMUによる試験効率化の方法を徹底解説しています。ぜひご視聴ください。

  • 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源/電子負荷性能について
  • SMUの仕組みとよく使われる機能のご紹介
  • SMUを使った代表的な測定事例のご紹介
  • ソフトウェアを使ったSMUの自動計測事例

반도체

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[On Demand] Characterization of Snapback for ESD Protection Devices

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Learn more about the snapback phenomenon and Keithley's solution to tackle this challenging topic in semiconductor test and measurement.

반도체

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[On Demand] Serial Bus Decode Made Easy

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Learn the common challenges for serial bus designers and how to overcome them using capabilities found in the mixed domain oscilloscope.

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