KR
현재 사이트
×
KR

경험을 사용자 정의할 지역을 선택하십시오:

메뉴 전환
KR
현재 사이트
×
KR

경험을 사용자 정의할 지역을 선택하십시오:

연락처

텍트로닉스 담당자와 실시간 상담 6:00am-4:30pm PST에 이용 가능

전화

전화 문의

9:00am-6:00PM KST에 이용 가능

다운로드

매뉴얼, 데이터 시트, 소프트웨어 등을 다운로드할 수 있습니다.

다운로드 유형
모델 또는 키워드

New Materials - New Reliability Issues


Semiconductor device reliability can generally be broken into two parts: infant mortality failures and wearout mechanisms. Infant mortality failures are due to manufacturing defects. The sources of these defects are generally the same as those that cause yield loss, so instrumentation requirements for detecting both are similar. Wearout failure mechanisms are known physical degradation mechanisms that will eventually cause the device to fail. For the reliability assurance engineer, the challenge is to ensure the degradation rate is slow enough to minimize the probability the device will fail within some specified ?useful lifetime.? Job #2143