재료 과학

신소재의 잠재력 활용

오늘날의 소비자들은 이전보다 더 작고, 더 가볍고, 더 저렴하면서 더 많은 용량의 전자제품을 좀 더 긴 시간 동안 작동하기 원합니다. 이러한 상충되는 요구를 해결하기 위해 연구자들은 신소재를 개발하고, 기존 장치를 소형화하고, 장치 효율성을 향상시켜야 합니다. 전력 소비를 줄이면서 장치 밀도 및 성능을 높이려는 노력은 높은 캐리어 이동성을 갖춘 태양 전지용 박막 및 기타 2D 솔리드는 물론 유기 반도체 및 나노 스케일 장치의 개발을 이끌었습니다.

새로운 전해질 및 전기 소재를 기준으로 하는 고효율 배터리는 작동 시간을 늘리는 데 꼭 필요합니다. 차세대 전기차를 보다 효율적이면서 저렴하게 만들기 위해 고안된 고급 연료 셀 기술 또한 연구 중입니다. 보다 환경친화적인 발전 솔루션에 대한 열망은 전력 변환에 필수적인 고열 초전도체 및 전력 반도체에 대한 연구를 촉진하고 있습니다. GaAs(갈륨비소) 및 SiC(탄화규소)와 같은 소재가 미래의 전력 전송 기술에서 중요하게 사용될 것입니다. 소재 연구 또한 태양 전지의 변환 효율성 및 전력 출력을 높이는 데 핵심적입니다. 레이저 다이오드의 효율성을 높여서 데이터 전송 용량을 늘리려면 신소재 및 구조에 대한 연구가 필요합니다.

초고감도 측정은 높은 캐리어 이동성 소재의 저항률을 평가하기 위해 펨토암페어 레벨의 누수 전류부터 마이크로옴 레벨의 저항을 측정하게 되는 소재 특성화에 중요합니다. 다른 측면에서, 최신 절연체를 특성화할 때 테라옴 측정이 진행되기도 합니다. 거의 0⁰K에서 수행되는 초전도체 또는 나노 물질 연구에서는 장치 또는 소재의 반응에 영향을 미치거나 손상을 줄 수 있는 자체 발열 방지를 위해 적용되는 전력 레벨을 낮춰야 합니다. 따라서 초저 DC 전류 또는 전류 펄스를 소싱해야 합니다.

라이브러리

Title
Performing Cyclic Voltammetry Measurements Using 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab Systems

This application note outlines using either a 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab System to perform cyclic voltammetry using the built-in test script and electrochemistry translation cable accessory kit.

Leakage Current and Insulation Resistance Measurements
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
Resistivity Measurements Using the Model 2450 SourceMeter SMU Instrument and a Four-Point Collinear Probe
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A

The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall…

31:10
제목
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

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